Components for low-voltage surge protection—Part 352: Selection and application principles for telecommunications and signalling network surge isolation transformers (SITs)
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 21283.4-2008 | 密封元件为热塑性材料的旋转轴唇形密封圈 第4部分：性能试验程序 | 现行 | 2008-05-14 | 2008-10-01 |
| GB/T 21283.3-2008 | 密封元件为热塑性材料的旋转轴唇形密封圈 第3部分：贮存、搬运和安装 | 现行 | 2008-05-14 | 2008-10-01 |
| GB/T 21283.5-2008 | 密封元件为热塑性材料的旋转轴唇形密封圈 第5部分 外观缺陷的识别 | 现行 | 2008-05-14 | 2008-10-01 |
| GB/T 13871.5-2015 | 密封元件为弹性体材料的旋转轴唇形密封圈 第5部分: 外观缺陷的识别 | 现行 | 2015-12-10 | 2017-01-01 |
| GB/T 21421.2-2014 | 标称电压高于1 000V 的架空线路用复合绝缘子串元件 第2部分：尺寸与特性 | 现行 | 2014-07-24 | 2015-01-22 |
| GB/T 22159.2-2012 | 声学与振动 弹性元件振动-声传递特性实验室测量方法 第2部分：弹性支撑件平动动刚度的直接测量方法 | 现行 | 2012-12-31 | 2013-06-01 |
| GB/T 22159.1-2012 | 声学与振动 弹性元件振动-声传递特性实验室测量方法 第1部分：原理与指南 | 现行 | 2012-12-31 | 2013-06-01 |
| GB/T 12273.501-2012 | 石英晶体元件 电子元器件质量评定体系规范 第5.1部分：空白详细规范 鉴定批准 | 现行 | 2012-11-05 | 2013-02-15 |
| GB/T 2423.50-2012 | 环境试验 第2部分：试验方法 试验Cy: 恒定湿热 主要用于元件的加速试验 | 废止 | 2012-11-05 | 2013-02-01 |
| GB/T 5095.2303-2021 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第23-3部分：屏蔽和滤波试验 试验23c：连接器和附件的屏蔽效果 线注入法 | 现行 | 2021-03-09 | 2021-10-01 |
| GB/T 5095.2505-2021 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-5部分：试验25e：回波损耗 | 现行 | 2021-03-09 | 2021-10-01 |
| GB/T 5095.2507-2021 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-7部分：试验25g：阻抗、反射系数和电压驻波比（VSWR） | 现行 | 2021-03-09 | 2021-10-01 |
| GB/T 5095.2502-2021 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-2部分：试验25b：衰减（插入损耗） | 现行 | 2021-03-09 | 2021-10-01 |
| GB/T 5095.2307-2021 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第23-7部分：屏蔽和滤波试验 试验23g：连接器的有效转移阻抗 | 现行 | 2021-03-09 | 2021-10-01 |
| GB/T 5095.2304-2021 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第23-4部分：屏蔽和滤波试验 试验23d：时域内传输线的反射 | 现行 | 2021-03-09 | 2021-10-01 |
| GB/T 5095.2501-2021 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-1部分：试验25a：串扰比 | 现行 | 2021-03-09 | 2021-10-01 |
| GB/T 5095.2504-2021 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-4部分：试验25d：传输时延 | 现行 | 2021-03-09 | 2021-10-01 |
| GB/T 5095.2503-2021 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-3部分：试验25c：上升时间衰减 | 现行 | 2021-03-09 | 2021-10-01 |