| GB/T 12847-1991 | 氢闸流管空白详细规范 (可供认证用) | 现行 | 1991-04-28 | 1991-12-01 |
| GB/T 14111-1993 | 闸流管与充气整流管空白详细规范 (可供认证用) | 废止 | 1993-01-21 | 1993-08-01 |
| GB/T 12846-1991 | 脉冲闸流管总规范 (可供认证用) | 现行 | 1991-04-28 | 1991-12-01 |
| GB/T 14110-1993 | 闸流管与充气整流管总规范 (可供认证用) | 废止 | 1993-01-21 | 1993-08-01 |
| GB/T 6352-1998 | 半导体器件 分立器件 第6部分:闸流晶体管 第一篇 100A以下环境或管壳额定反向阻断三极闸流晶体管空白详细规范 | 现行 | 1998-11-17 | 1999-06-01 |
| GB/T 6590-1998 | 半导体器件 分立器件 第6部分:闸流晶体管 第二篇 100A以下环境或管壳额定的双向三极闸流晶体管空白详细规范 | 现行 | 1998-11-17 | 1999-06-01 |
| GB/T 6428-1995 | 氢闸流管测试方法 | 现行 | 1995-12-22 | 1996-08-01 |
| SJ/T 10033-1991 | ZQMI--325/16型氢闸流管 | 现行 | 1991-04-08 | 1991-07-01 |
| GB/T 14183-1993 | 变像管和像增强管空白详细规范(可供认证用) | 现行 | 1993-02-20 | 1993-10-01 |
| GB/T 14119-1993 | 半导体集成电路双极熔丝式可编程只读存储器空白详细规范(可供认证用) | 现行 | 1993-01-21 | 1993-08-01 |
| GB/T 14005-1992 | 电子设备用固定电容器 第6部分:空白详细规范 金属化聚碳酸酯膜介质直流固定电容器 评定水平 E(可供认证用) | 现行 | 1992-12-17 | 1993-08-01 |
| GB/T 12277-1990 | 电子设备用固定电阻器 第七部分:空白详细规范 各电阻器不可单独测量的固定电阻网络 评定水平 E (可供认证用) | 现行 | 1990-03-15 | 1990-10-01 |
| GB/T 7509-1987 | 半导体集成电路微处理器空白详细规范 (可供认证用) | 现行 | 1987-03-25 | 1987-11-01 |
| GB/T 5735-1985 | 电子设备用固定电阻器 第五部分:空白详细规范 精密固定电阻器 评定水平E (可供认证用) | 现行 | 1985-09-26 | 1986-09-01 |
| GB/T 5733-1985 | 电子设备用固定电阻器 第四部分:空白详细规范 功率型固定电阻器 评定水平E (可供认证用) | 现行 | 1985-11-26 | 1986-09-01 |
| GB/T 5731-1985 | 电子设备用固定电阻器 第二部分:空白详细规范 低功率非线绕固定电阻器 评定水平E(可供认证用) | 现行 | 1985-11-26 | 1986-09-01 |
| GB/T 6648-1986 | 半导体集成电路静态读/ 写存储器空白详细规范(可供认证用) | 现行 | 1986-07-31 | 1987-08-01 |
| GB/T 12795-1991 | 电子设备用固定电容器 第15部分:空白详细规范 非固体电解质多孔阳极钽电容器 评定水平 E (可供认证用) | 现行 | 1991-04-15 | 1991-12-01 |