Measurement of quartz crystal unit parameters—Part 7: Measurement of activity dips of quartz crystal units
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| JB/T 9495.4-1999 | 光学晶体应力双折射测量方法 | 现行 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| JB/T 9495.5-1999 | 光学晶体散射颗粒度测量方法 | 现行 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| JB/T 9495.7-1999 | 光学晶体光学均匀性测量方法 | 现行 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| GB/T 11297.12-2012 | 光学晶体消光比的测量方法 | 现行 | 2012-12-31 | 2013-06-01 |
| GB/T 18210-2000 | 晶体硅光伏(PV)方阵 I-V特性的现场测量 | 废止 | 2000-10-17 | 2001-05-01 |
| GB/T 40291-2021 | 核仪器仪表 辐射探测器用高纯度锗晶体 基本特性的测量方法 | 现行 | 2021-05-21 | 2021-12-01 |
| GB/T 39865-2021 | 单轴晶光学晶体折射率测量方法 | 现行 | 2021-03-09 | 2021-10-01 |
| GB/T 42257-2022 | 铬铒共掺钇钪镓石榴石晶体光学及激光性能测量方法 | 现行 | 2022-12-30 | 2023-04-01 |
| GB/T 1557-2006 | 硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法 | 废止 | 2006-07-18 | 2006-11-01 |
| T/CPIA 0045-2022 | 晶体硅太阳电池电流-电压特性产线测量操作指南 | 现行 | 2022-12-30 | 2023-01-15 |
| GB/T 5076-1985 | 具有两个轴向引出端的圆柱体元件的尺寸测量 | 废止 | 1985-04-16 | 1985-12-01 |
| GB/T 25451-2010 | 重水堆核电厂燃料元件涂层厚度测量β射线背散射法 | 现行 | 2010-11-10 | 2011-05-01 |
| GB/T 43690-2024 | 成像衍射光学元件衍射效率的测量方法 | 现行 | 2024-03-15 | 2024-10-01 |
| GB/T 44605-2024 | 激光器和激光相关设备 激光光学元件吸收分布测量 光热成像法 | 现行 | 2024-09-29 | 2025-04-01 |
| SJ/T 10182-1991 | 波导和同轴元件功率测量方法 | 现行 | 1991-05-28 | 1991-12-01 |
| SJ/T 10183-1991 | 波导和同轴元件衰减测量方法 | 现行 | 1991-05-28 | 1991-12-01 |
| GB/T 43690-2024 | 成像衍射光学元件衍射效率的测量方法（外文版EN） | 现行 | 2024-12-31 | |
| GB/T 7343-1987 | 10 kHz～30 MHz无源无线电干扰滤波器和抑制元件抑制特性的测量方法 | 废止 | 1987-03-02 | 1987-11-01 |