| GB/T 5095.2505-2021 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-5部分：试验25e：回波损耗 | 现行 | 2021-03-09 | 2021-10-01 |
| GB/T 5095.2507-2021 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-7部分：试验25g：阻抗、反射系数和电压驻波比（VSWR） | 现行 | 2021-03-09 | 2021-10-01 |
| GB/T 5095.2502-2021 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-2部分：试验25b：衰减（插入损耗） | 现行 | 2021-03-09 | 2021-10-01 |
| GB/T 5095.2307-2021 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第23-7部分：屏蔽和滤波试验 试验23g：连接器的有效转移阻抗 | 现行 | 2021-03-09 | 2021-10-01 |
| GB/T 5095.2304-2021 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第23-4部分：屏蔽和滤波试验 试验23d：时域内传输线的反射 | 现行 | 2021-03-09 | 2021-10-01 |
| GB/T 5095.2501-2021 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-1部分：试验25a：串扰比 | 现行 | 2021-03-09 | 2021-10-01 |
| GB/T 5095.2504-2021 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-4部分：试验25d：传输时延 | 现行 | 2021-03-09 | 2021-10-01 |
| GB/T 5095.2503-2021 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-3部分：试验25c：上升时间衰减 | 现行 | 2021-03-09 | 2021-10-01 |
| GB/T 5095.2506-2020 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-6部分：试验25f：眼图和抖动 | 现行 | 2020-04-28 | 2020-11-01 |
| GB/T 5095.2509-2020 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-9部分：信号完整性试验 试验25i：外来串扰 | 现行 | 2020-04-28 | 2020-11-01 |
| GB/T 22319.6-2023 | 石英晶体元件参数的测量 第6部分：激励电平相关性(DLD)的测量 | 现行 | 2023-09-07 | 2024-01-01 |
| GB/T 22159.3-2008 | 声学与振动 弹性元件振动 声传递特性实验室测量方法 第3部分：弹性支撑件平动动刚度的间接测量方法 | 现行 | 2008-07-02 | 2009-02-01 |
| GB/T 22319.7-2015 | 石英晶体元件参数的测量 第7部分：石英晶体元件活性跳变的测量 | 现行 | 2015-06-02 | 2016-02-01 |
| GB/T 22319.9-2018 | 石英晶体元件参数的测量 第9部分：石英晶体元件寄生谐振的测量 | 现行 | 2018-03-15 | 2018-10-01 |
| GB/T 22319.11-2018 | 石英晶体元件参数的测量 第11部分：采用自动网络分析技术和误差校正确定负载谐振频率和有效负载电容的标准方法 | 现行 | 2018-03-15 | 2018-10-01 |
| GB/T 40852.1-2021 | 高频感性元件 非电特性及其测量方法 第1部分：电子和通信设备用表面安装固定电感器 | 现行 | 2021-11-26 | 2022-06-01 |
| GB/T 40853.1-2021 | 高频感性元件 电特性及其测量方法 第1部分：纳亨级片式电感器 | 现行 | 2021-11-26 | 2022-06-01 |
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