利用Si(111)晶面原子台阶对原子力显微镜亚纳米高度测量进行校准的方法

Test method for calibrating the z-magnification of an atomic force microscope at subnanometer displacement levels using si (111) monatomic steps

GB/T 27760-2011推荐性国家标准

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标准号标准名称状态发布日期实施日期
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GB/T 32731-2016辣椒粉 显微镜检查法现行2016-06-142017-01-01
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