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| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 实施日期 | 相似标准 |
|---|---|---|---|---|
| T/TIAA 013.6-2018 | 基于长期演进技术（LTE）的车联网终端 射频和通信性能规范 第6部分 抗干扰测试方法 | 现行 | 2018-07-17 | —— |
| T/TIAA 013.6-2018 | 基于长期演进技术（LTE）的车联网终端 射频和通信性能规范 第6部分 抗干扰测试方法 | 现行 | 2018-07-17 | —— |
| T/TIAA 013.5-2018 | 基于长期演进技术（LTE）的车联网终端 射频和通信性能规范 第5部分 抗干扰要求 | 现行 | 2018-07-17 | —— |
| T/TIAA 013.4-2018 | 基于长期演进技术（LTE）的车联网终端 射频和通信性能规范 第4部分：通信性能测试方法 | 现行 | 2018-07-17 | —— |
| T/TIAA 013.3-2018 | 基于长期演进技术（LTE）的车联网终端 射频和通信性能规范 第3部分：通信性能要求 | 现行 | 2018-07-17 | —— |
| T/TIAA 013.2-2018 | 基于长期演进技术（LTE）的车联网终端 射频和通信性能规范 第2部分：射频测试方法 | 现行 | 2018-07-17 | —— |
| T/TIAA 013.1-2018 | 基于长期演进技术（LTE）的车联网终端 射频和通信性能规范 第1部分：射频要求 | 现行 | 2018-07-17 | —— |
| CY/T 159-2017 | 图书印前数字资源文件保存要求 | 现行 | 2018-02-01 | 找相似 |
| NB/T 20271-2014 | 核电厂退役需要的文件和记录的维护与保存要求 | 现行 | 2014-11-01 | 找相似 |
| GB/T 42706.2-2023 | 电子元器件 半导体器件长期贮存 第2部分：退化机理 | 现行 | 2023-09-01 | 找相似 |
| GB/T 42706.5-2023 | 电子元器件 半导体器件长期贮存 第5部分：芯片和晶圆 | 现行 | 2023-09-01 | 找相似 |
| GB/T 42706.1-2023 | 电子元器件 半导体器件长期贮存 第1部分：总则 | 现行 | 2023-09-01 | 找相似 |
| GB/T 42706.3-2025 | 电子元器件 半导体器件长期贮存 第3部分：数据 | 即将实施 | 2026-07-01 | 找相似 |
| GB/T 42706.8-2026 | 电子元器件 半导体器件长期贮存 第8部分：无源电子器件 | 即将实施 | 2026-09-01 | 找相似 |
| GB/T 42706.4-2025 | 电子元器件 半导体器件长期贮存 第4部分：贮存 | 即将实施 | 2026-05-01 | 找相似 |
| GB/T 42706.6-2025 | 电子元器件 半导体器件长期贮存 第6部分：封装或涂覆元器件 | 即将实施 | 2026-05-01 | 找相似 |
| GB/T 42706.7-2026 | 电子元器件 半导体器件长期贮存 第7部分：微电子机械器件 | 即将实施 | 2026-09-01 | 找相似 |
| GB/T 42706.9-2026 | 电子元器件 半导体器件长期贮存 第9部分：特殊情况 | 即将实施 | 2026-11-01 | 找相似 |