Potentiometers for use in electronic equipment--Part 5:Blank detail specification--Single-turn rotary low-power potentiometers--Assessment level E
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 22137.2-2008 | 工业过程控制系统用阀门定位器 第2部分：气动输出智能阀门定位器性能评定方法 | 废止 | 2008-06-30 | 2009-01-01 |
| GB/T 10185-2012 | 电子设备用固定电容器 第7部分：分规范 金属箔式聚苯乙烯膜介质直流固定电容器 | 现行 | 2012-11-05 | 2013-02-15 |
| SN/T 1603.1-2012 | 进出口音视频及类似电子设备检验规程 第1部分：通用要求 | 现行 | 2012-12-12 | 2013-07-01 |
| SN/T 1603.6-2012 | 进出口音视频及类似电子设备检验规程 第6部分：机顶盒的能效 | 现行 | 2012-05-07 | 2012-11-16 |
| GB/T 17206-1998 | 电子设备用固定电容器 第18部分:分规范 固体(MnO2)与非固体电解质片式铝固定电容器 | 现行 | 1998-01-19 | 1998-09-01 |
| GB/T 12864-1997 | 电子设备用压电陶瓷滤波器 电子元器件质量评定体系规范 第2部分:分规范 鉴定批准 | 现行 | 1997-12-26 | 1998-10-01 |
| GB/T 5095.1-1997 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第1部分:总则 | 现行 | 1997-12-26 | 1998-10-01 |
| GB/T 5095.7-1997 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第7部分:机械操作试验和密封性试验 | 现行 | 1997-12-26 | 1998-10-01 |
| GB/T 12865-1997 | 电子设备用压电陶瓷滤波器 电子元器件质量评定体系规范 第2部分:分规范 鉴定批准 第一篇:空白详细规范评定水平E | 现行 | 1997-12-26 | 1998-10-01 |
| GB/T 5095.5-1997 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第5部分:撞击试验(自由元件)、静负荷试验(固定元件)、寿命试验和过负荷试验 | 现行 | 1997-12-26 | 1998-10-01 |
| GB/T 5095.12-1997 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第12部分:锡焊试验 第六篇:试验12f在机器焊接中封焊处耐焊剂和清洁剂 | 现行 | 1997-12-26 | 1998-10-01 |
| GB/T 5095.8-1997 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第8部分:连接器、接触件及引出端的机械试验 | 现行 | 1997-12-26 | 1998-10-01 |
| GB/T 5095.15-1997 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第15部分:接触件和引出端的机械试验 第八篇:试验15h接触件固定机构耐工具使用性 | 现行 | 1997-12-26 | 1998-10-01 |
| GB/T 5095.9-1997 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第9部分:杂项试验 | 现行 | 1997-12-26 | 1998-10-01 |
| GB/T 17209-1998 | 电子设备用机电开关 第2部分:旋转开关分规范 | 现行 | 1998-01-19 | 1998-09-01 |
| GB/T 5095.3-1997 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第3部分:载流容量试验 | 现行 | 1997-12-26 | 1998-10-01 |
| GB/T 5095.6-1997 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第6部分:气候试验和锡焊试验 | 现行 | 1997-12-26 | 1998-10-01 |
| GB/T 5095.11-1997 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第11部分:气候试验 | 现行 | 1997-12-26 | 1998-10-01 |