| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| SJ/T 11394-2009 | 半导体发光二极管测试方法 | 现行 | 2009-11-17 | 2010-01-01 |
| SJ/T 2658.3-2015 | 半导体红外发射二极管测量方法 第3部分：反向电压和反向电流 | 现行 | 2015-10-10 | 2016-04-01 |
| YS/T 679-2008 | 非本征半导体中少数载流子扩散长度的稳态表面光电压测试方法 | 废止 | 2008-03-12 | 2008-09-01 |
| SJ/T 10805-2000 | 半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理 | 废止 | 2000-12-28 | 2001-03-01 |
| DB44/T 1895-2016 | 半导体照明器件色差一致性在线快速评估方法 | 废止 | 2016-09-29 | 2016-12-29 |
| DB52/T 1104-2016 | 半导体器件结-壳热阻瞬态测试方法 | 废止 | 2016-04-01 | 2016-10-01 |
| GB/T 4298-1984 | 半导体硅材料中杂质元素的活化分析方法 | 废止 | 1984-03-28 | 1985-03-01 |
| GB/T 10236-1988 | 半导体电力变流器与电网互相干扰及其防护方法导则 | 废止 | 1988-12-22 | 1990-01-01 |
| GB/T 249-1989 | 半导体分立器件型号命名方法 | 废止 | 1989-03-18 | 1990-04-01 |
| GB/T 3430-1989 | 半导体集成电路型号命名方法 | 废止 | 1989-03-31 | 1990-04-01 |
| GB/T 14028-1992 | 半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理 | 废止 | 1992-12-17 | 1993-08-01 |
| GB/T 14844-1993 | 半导体材料牌号表示方法 | 废止 | 1993-12-30 | 1994-09-01 |
| GB/T 15136-1994 | 半导体集成电路石英钟表电路测试方法的基本原理 | 废止 | 1994-06-16 | 1995-02-01 |
| GB/T 4377-1996 | 半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理 | 废止 | 1996-07-09 | 1997-01-01 |
| GB/T 1550-1997 | 非本征半导体材料导电类型测试方法 | 废止 | 1997-06-03 | 1997-12-01 |
| GB/T 8446.2-2004 | 电力半导体器件用散热器 第2部分:热阻和流阻测试方法 | 废止 | 2004-02-04 | 2004-08-01 |
| GB/T 21548-2008 | 光通信用高速直接调制半导体激光器的测量方法 | 废止 | 2008-03-31 | 2008-11-01 |
| GB/T 6616-2009 | 半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测试方法 非接触涡流法 | 废止 | 2009-10-30 | 2010-06-01 |