| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| SY/T 5385-2007 | 岩石电阻率参数实验室测量及计算方法 | 废止 | 2007-10-08 | 2008-03-01 |
| YS/T 602-2007 | 区熔锗锭电阻率测试方法 两探针法 | 废止 | 2007-11-14 | 2008-05-01 |
| SY/T 6712-2008 | 岩样复电阻率实验室测量方法 | 废止 | 2008-06-16 | 2008-12-01 |
| SJ/T 1146-1993 | 电容器用有机薄膜体积电阻率试验方法 | 废止 | 1993-12-17 | 1994-06-01 |
| JB/T 6773-1993 | 金属石墨制品电阻率试验方法 | 废止 | 1993-08-21 | 1993-10-01 |
| JB/T 8133.2-1995 | 电碳制品物理化学性能试验方法电阻率 | 废止 | 1996-04-14 | 1996-04-14 |
| SY/T 5385-1991 | 岩石电阻率参数实验室测量及计算方法 | 废止 | 1991-07-19 | 1991-02-01 |
| JB/T 8133.2-1999 | 电碳制品物理化学性能试验方法电阻率 | 废止 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| JB/T 9437-1999 | 静电复印干式显影剂载体电阻率试验方法 | 废止 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| GB/T 19289-2003 | 电工钢片(带)的密度、电阻率和叠装系数的测量方法 | 废止 | 2003-09-12 | 2004-04-01 |
| GB/T 1410-2006 | 固体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率试验方法 | 废止 | 2006-02-15 | 2006-06-01 |
| GB/T 10581-2006 | 绝缘材料在高温下电阻和电阻率的试验方法 | 废止 | 2006-02-15 | 2006-06-01 |
| GB/T 6616-2009 | 半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测试方法 非接触涡流法 | 废止 | 2009-10-30 | 2010-06-01 |
| JC/T 3073-2026 | 混凝土电阻率测试方法 | 即将实施 | 2026-07-15 | 2027-02-01 |
| GB/T 11297.7-1989 | 锑化铟单晶电阻率及霍耳系数的测试方法 | 现行 | 1989-03-31 | 1990-01-01 |
| T/CSTM 00252-2020 | 碳纤维体积电阻率试验方法 四探针法 | 现行 | 2020-07-24 | 2020-10-24 |
| T/IAWBS 011-2019 | 导电碳化硅单晶片电阻率测量方法—非接触涡流法 | 现行 | 2019-12-27 | 2019-12-31 |
| T/IAWBS 013-2019 | 半绝缘碳化硅单晶片电阻率非接触测量方法 | 现行 | 2019-12-27 | 2019-12-31 |