Methods for chemical analysis of high purity indium oxide - Part 2: Determination of tin content - Phenylfluorone spectrophotometry
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| JC/T 2149-2012 | 高纯碳化硅粉体成分分析方法 | 现行 | 2012-12-28 | 2013-06-01 |
| GB/T 11713-2015 | 高纯锗γ能谱分析通用方法 | 现行 | 2015-06-02 | 2016-01-01 |
| SY/T 5253-1991 | 岩心的自然伽马能谱分析方法用高纯锗探测器法 | 废止 | 1991-07-19 | 1991-11-01 |
| DB15/T 887-2015 | 高纯钛酸锶中锶钛含量的分析方法 | 废止 | 2015-07-01 | 2015-10-01 |
| SJ/T 3328.2-2016 | 电子产品用高纯石英砂 第2部分分析方法通则 | 现行 | 2016-01-15 | 2016-06-01 |
| YS/T 935-2013 | 电子薄膜用高纯金属溅射靶材纯度等级及杂质含量分析和报告标准指南 | 现行 | 2013-10-17 | 2014-03-01 |
| YS/T 365-2006 | 高纯铂中杂质元素的发射光谱分析 | 现行 | 2006-05-25 | 2006-12-01 |
| GB/T 32263-2015 | 高纯化合物 农残分析用化合物的测定 气相色谱-电子捕获检测器（ECD）法 | 现行 | 2015-12-10 | 2017-01-01 |
| SN/T 2259-2009 | 高纯阴极铜中化学成分的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法 | 现行 | 2009-02-20 | 2009-09-01 |
| GB/T 16484.21-2009 | 氯化稀土、碳酸轻稀土化学分析方法 第21部分：氧化铁量的测定 1，10-二氮杂菲分光光度法 | 现行 | 2009-10-30 | 2010-05-01 |
| GB/T 20166.1-2012 | 稀土抛光粉化学分析方法 第1部分：氧化铈量的测定 滴定法 | 现行 | 2012-11-05 | 2013-05-01 |
| GB/T 24268-2009 | 银氧化锡电触头材料化学分析方法 | 现行 | 2009-06-19 | 2010-02-01 |
| SN/T 1337.1-2003 | 进出口钛精矿化学分析方法 五氧化二钒含量的测定 | 现行 | 2003-08-18 | 2004-02-01 |
| GB/T 3286.2-2012 | 石灰石及白云石化学分析方法 第2部分：二氧化硅含量的测定 硅钼蓝分光光度法和高氯酸脱水重量法 | 废止 | 2012-11-05 | 2013-05-01 |
| GB/T 14506.11-2010 | 硅酸盐岩石化学分析方法 第11部分：氧化钾和氧化钠量测定 | 现行 | 2010-11-10 | 2011-02-01 |
| SN/T 1031.2-2001 | 出口粗氧化锑化学分析方法 总锑量的测定 | 现行 | 2001-12-30 | 2002-06-01 |
| GB/T 18115.6-2023 | 稀土金属及其氧化物中稀土杂质化学分析方法 第6部分：铕中镧、铈、镨、钕、钐、钆、铽、镝、钬、铒、铥、镱、镥和钇量的测定 | 现行 | 2023-11-27 | 2024-06-01 |
| GB/T 16477.3-2010 | 稀土硅铁合金及镁硅铁合金化学分析方法 第3部分：氧化镁含量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法 | 现行 | 2011-01-14 | 2011-11-01 |