Fixed resistors for use in electronic equipment--Part 5:Blank detail specification--Fixed precision resistors--Assessment level E
现行
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| SJ/T 11278-2002 | 电子设备用压敏电阻器 第3部分：分规范 防雷型压敏电阻器 | 现行 | 2002-10-30 | 2003-03-01 |
| SJ/T 11278.4.2-2014 | 电子设备用压敏电阻器 第4部分：分规范 片式压敏电阻器 | 现行 | 2014-10-14 | 2015-04-01 |
| SJ/T 11482-2014 | 电子设备用压敏电阻器 MYP型片式压敏电阻器详细规范评定水平E | 现行 | 2014-10-14 | 2015-04-01 |
| SJ/T 11278.4.1-2014 | 电子设备用压敏电阻器 第4部分：空白详细规范 片式压敏电阻器评定水平E | 现行 | 2014-10-14 | 2015-04-01 |
| SJ/T 10617-2017 | 电子元器件详细规范 低功率非线绕固定电阻器RT13型碳膜固定电阻器评定水平E | 现行 | 2017-11-07 | 2018-01-01 |
| SJ/T 10872-2000 | 电子元器件详细规范 低功率非线绕固定电阻器RJ15型金属膜固定电阻器评定水平E | 现行 | 2000-08-16 | 2000-10-01 |
| SJ/T 10774-2017 | 电子元器件详细规范 低功率非线绕固定电阻器RT14型碳膜固定电阻器评定水平E | 现行 | 2017-11-07 | 2018-01-01 |
| SJ/T 10775-2013 | 电子元器件详细规范 低功率非线绕固定电阻器RJ14型金属膜固定电阻器评定水平E | 现行 | 2013-10-17 | 2013-12-01 |
| SJ/T 11113-2013 | 电子元器件详细规范 低功率非线绕固定电阻器RJ13型金属膜固定电阻器评定水平E | 现行 | 2013-10-17 | 2013-12-01 |
| SJ/T 11611-2016 | 电子元器件详细规范 线绕固定电阻器械 RXF-1型涂覆型线绕熔断器械 评定水平E | 现行 | 2016-01-15 | 2016-06-01 |
| SJ/T 10774-2000 | 电子元器件详细规范 低功率非线绕固定电阻器RT14型碳膜固定电阻器评定水平E | 废止 | 2000-08-16 | 2000-10-01 |
| SJ/T 10775-2000 | 电子元器件详细规范 低功率非线绕固定电阻器RJ14型金属膜固定电阻器评定水平E | 废止 | 2000-08-16 | 2000-10-01 |
| SJ/T 11113-1999 | 电子元器件详细规范 低功率非线绕固定电阻器RJ13型金属膜固定电阻器评定水平E | 废止 | 1999-08-26 | 1999-12-01 |
| GB/T 15654-1995 | 电子设备用膜固定电阻网络 第1部分:总规范 | 现行 | 1995-07-24 | 1996-04-01 |
| GB/T 15883-1995 | 电子设备用膜固定电阻网络 第2部分:按能力批准程序评定质量的膜电阻网络空白详细规范评定水平E | 废止 | 1995-12-22 | 1996-08-01 |
| GB/T 15882-1995 | 电子设备用膜固定电阻网络 第2部分:按能力批准程序评定质量的膜电阻网络分规范 | 废止 | 1995-12-22 | 1996-08-01 |
| GB/T 7016-1986 | 固定电阻器电流噪声测量方法 | 废止 | 1986-11-20 | 1987-09-01 |
| SJ/T 10322-1992 | 金属膜固定电阻器用陶瓷基体 | 现行 | 1992-06-15 | 1992-12-01 |