| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| DB13/T 5631-2022 | 电子专用材料单晶硅生长用石英坩埚生产技术规范 | 废止 | 2022-12-27 | 2023-01-27 |
| DB1310/T 227-2020 | 电子专用材料单晶硅生长用石英坩埚工艺技术规范 | 废止 | 2020-10-16 | 2020-11-16 |
| DB13/T 5092-2019 | 太阳能级类单晶硅锭用方籽晶通用技术要求 | 废止 | 2019-11-28 | 2019-12-28 |
| DB61/T 512-2011 | 太阳电池用单晶硅片检验规则 | 废止 | 2011-04-20 | 2011-05-01 |
| DB61/T 511-2011 | 太阳电池用单晶硅棒检验规则 | 废止 | 2011-04-20 | 2011-05-01 |
| DB51/T 2499-2018 | 充填处理单晶体宝石 定名及合格判定 | 废止 | 2018-05-14 | 2018-06-01 |
| GB/T 47902-2026 | 金刚石单晶抛光片 | 即将实施 | 2026-07-02 | 2027-02-01 |
| GB/T 9532-1988 | 铌酸锂、钽酸锂、锗酸铋、硅酸铋压电单晶材料型号命名方法 | 废止 | 1988-06-28 | 1989-02-01 |
| GB/T 13843-1992 | 蓝宝石单晶抛光衬底片 | 废止 | 1992-12-28 | 1993-08-01 |
| GB/T 20230-2006 | 磷化铟单晶 | 废止 | 2006-04-21 | 2006-10-01 |
| GB/T 20229-2006 | 磷化镓单晶 | 废止 | 2006-04-21 | 2006-10-01 |
| GB/T 20228-2006 | 砷化镓单晶 | 废止 | 2006-04-21 | 2006-10-01 |
| GB/T 8760-2006 | 砷化镓单晶位错密度的测量方法 | 废止 | 2006-07-18 | 2006-11-01 |
| GB/T 5252-2006 | 锗单晶位错腐蚀坑密度测量方法 | 废止 | 2006-07-18 | 2006-11-01 |
| GB/T 11094-2007 | 水平法砷化镓单晶及切割片 | 废止 | 2007-09-11 | 2008-02-01 |
| GB/T 22453-2008 | 硼酸盐非线性光学单晶元件质量测试方法 | 废止 | 2008-10-07 | 2009-04-01 |
| GB/T 22452-2008 | 硼酸盐非线性光学单晶元件通用技术条件 | 废止 | 2008-10-07 | 2009-04-01 |
| GB/T 5238-2009 | 锗单晶和锗单晶片 | 废止 | 2009-10-30 | 2010-06-01 |