Inorganic chemicals for industrial use―The determination of impurity element―Inductively coupled plasma mass spectrometry(ICP-MS)
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| YS/T 900-2013 | 高纯钨化学分析方法 痕量杂质元素的测定电感耦合等离子体质谱法 | 废止 | 2013-10-17 | 2014-03-01 |
| YS/T 473-2005 | 工业镓化学分析方法 杂质元素的测定 电感耦合等离子体质谱法 | 废止 | 2005-05-18 | 2005-12-01 |
| DB51/T 2044-2015 | 高纯度五氧化二钒 杂质元素含量的测定方法 | 废止 | 2015-09-25 | 2016-01-01 |
| DB51/T 2038-2015 | 钒铝合金 硅、铁等15种杂质元素含量的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法 | 废止 | 2015-09-25 | 2016-01-01 |
| GB/T 13372-1992 | 二氧化铀粉末和芯块中杂质元素的测定 ICP-AES 法 | 废止 | 1992-02-02 | 1992-12-01 |
| DB35/T 1146-2011 | 硅材料中杂质元素含量测定 辉光放电质谱法 | 废止 | 2011-04-10 | 2011-07-10 |
| DB53/T 501-2013 | 多晶硅用三氯氢硅杂质元素含量测定电感耦合等离子体质谱法 | 废止 | 2013-08-01 | 2013-10-01 |
| DB15/T 688.1-2014 | 二氧化钍粉末化学分析方法 第1部分：二氧化钍粉末中铝、镍等22种杂质元素的测定—电感耦合等离子体发射光谱法 | 废止 | 2014-03-20 | 2014-05-15 |
| T/CMES 08001-2020 | 铬铁 杂质元素的测定电感耦合等离子体原发射光谱法 | 现行 | 2020-12-07 | 2020-12-07 |
| T/CMES 08002-2020 | 铌铁 杂质元素的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法 | 现行 | 2020-12-07 | 2020-12-07 |
| YS/T 903.3-2025 | 回收铟原料化学分析方法 第3部分：杂质元素含量的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法 | 现行 | 2025-07-02 | 2026-02-01 |
| YS/T 923.2-2024 | 高纯铋化学分析方法 第2部分：痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法 | 现行 | 2024-10-24 | 2025-05-01 |
| YS/T 539.9-2024 | 镍基合金粉化学分析方法 第9部分：杂质元素含量的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法 | 现行 | 2024-10-24 | 2025-05-01 |
| YS/T 568.9-2025 | 氧化锆、氧化铪化学分析方法第 9 部分：氧化铪中杂质元素含量的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法 | 现行 | 2025-08-19 | 2026-03-01 |
| YS/T 568.8-2025 | 氧化锆、氧化铪化学分析方法第 8 部分：氧化锆中杂质元素含量的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法 | 现行 | 2025-08-19 | 2026-03-01 |
| YS/T 555.8-2025 | 钼精矿化学分析方法 第 8 部分： 杂质元素含量的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法 | 现行 | 2025-08-19 | 2026-03-01 |
| YS/T 358.13-2025 | 钽铁、铌铁精矿化学分析方法第 13 部分： 杂质元素含量的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法 | 现行 | 2025-08-19 | 2026-03-01 |
| YS/T 1012-2025 | 高纯镍化学分析方法 杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法 | 现行 | 2025-08-19 | 2026-03-01 |