| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| YS/T 40-2011 | 高纯碘化铯 | 现行 | 2011-12-20 | 2012-07-01 |
| YS/T 819-2012 | 电子薄膜用高纯铜溅射靶材 | 现行 | 2012-11-07 | 2013-03-01 |
| YS/T 916-2013 | 高纯镉 | 现行 | 2013-10-17 | 2014-03-01 |
| YS/T 81-2020 | 高纯海绵铂 | 现行 | 2020-12-09 | 2021-04-01 |
| YS/T 922-2013 | 高纯铜化学分析方法 痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法 | 现行 | 2013-10-17 | 2014-03-01 |
| YS/T 926-2013 | 高纯二氧化碲 | 现行 | 2013-10-17 | 2014-03-01 |
| YS/T 1191-2017 | 超高纯锑 | 现行 | 2017-07-07 | 2018-01-01 |
| YS/T 629.5-2007 | 高纯氧化铝化学分析方法 氧化钙、氧化镁含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法 | 现行 | 2007-04-13 | 2007-10-01 |
| YB/T 5146-2022 | 高纯石墨制品灰分的测定 | 现行 | 2022-09-30 | 2023-04-01 |
| YB/T 4590-2017 | 硅材料用高纯石墨制品中杂质含量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法 | 现行 | 2017-04-12 | 2017-10-01 |
| JC/T 2139-2012 | 核物理领域用高纯二氧化碲单晶 | 现行 | 2012-12-28 | 2013-06-01 |
| JC/T 2147-2012 | 高纯氧化铝的痕量金属元素等离子体发射光谱检测方法 | 现行 | 2012-12-28 | 2013-06-01 |
| JC/T 2149-2012 | 高纯碳化硅粉体成分分析方法 | 现行 | 2012-12-28 | 2013-06-01 |
| JC/T 2027-2010 | 高纯石英中杂质含量的测定方法会 电感耦合等离子体原子发射光谱法 | 现行 | 2010-11-10 | 2011-03-01 |
| JC/T 2680-2022 | 高温隔热用高纯泡沫氧化铝陶瓷砖 | 现行 | 2022-09-30 | 2023-04-01 |
| JC/T 2571-2020 | 高纯石墨中微量元素测定方法 | 现行 | 2020-12-09 | 2021-04-01 |
| GB/T 45823-2025 | 光伏单晶硅生长用石英坩埚高纯内层砂 | 现行 | 2025-05-30 | 2025-12-01 |
| HG/T 4559-2013 | 超净高纯硫酸 | 现行 | 2013-10-17 | 2014-03-01 |