Methods for chemical analysis of silicon metal―Part 4：Determination of impurity contents―Inductively coupled plasma atomic emission spectrometric method
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 实施日期 | 相似标准 |
|---|---|---|---|---|
| T/CNEA 249.4-2024 | 核工业用锆及锆合金化学分析方法 第4部分：氢量的测定 惰性气体熔融红外法 | 现行 | 2025-02-02 | —— |
| T/CNEA 249.3-2024 | 核工业用锆及锆合金化学分析方法 第3部分：氧量和氮量的测定 惰性气体熔融-红外热导法 | 现行 | 2025-02-02 | —— |
| T/CNEA 249.2-2024 | 核工业用锆及锆合金化学分析方法 第2部分：硫量的测定 高频燃烧红外吸收法 | 现行 | 2025-02-02 | —— |
| T/CNEA 249.1-2024 | 核工业用锆及锆合金化学分析方法 第1部分：碳量的测定 高频燃烧红外吸收法 | 现行 | 2025-02-02 | —— |
| T/CNEA 249.10-2024 | 核工业用锆及锆合金化学分析方法 第10部分：表面钙、镁、钠量的测定电感耦合等离子体发射光谱法 | 现行 | 2025-02-02 | —— |
| JC 440-1991 | 玻璃工业用白云石化学分析方法 | 现行 | 1992-07-01 | 相似 |
| JC/T 440-2023 | 玻璃工业用白云石化学分析方法 | 现行 | 2024-07-01 | 相似 |
| YS/T 473-2015 | 工业镓化学分析方法杂质元素的测定电感耦合等离子体质谱法 | 现行 | 2015-10-01 | 相似 |
| YS/T 666-2008 | 工业镓化学分析方法杂质元素的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法 | 现行 | 2008-09-01 | 相似 |
| YS/T 872-2013 | 工业镓化学分析方法 汞含量的测定原子荧光光谱法 | 废止 | 2013-09-01 | 相似 |
| YS/T 473-2005 | 工业镓化学分析方法 杂质元素的测定 电感耦合等离子体质谱法 | 废止 | 2005-12-01 | 相似 |
| GB/T 8156.1-1987 | 工业用氟化铝化学分析方法 重量法测定湿存水量 | 废止 | 1988-06-01 | 相似 |
| GB/T 8156.8-1987 | 工业用氟化铝化学分析方法 硫酸钡重量法测定硫酸根量 | 废止 | 1988-06-01 | 相似 |
| GB/T 8156.7-1987 | 工业用氟化铝化学分析方法 邻二氮杂菲光度法测定铁量 | 废止 | 1988-06-01 | 相似 |
| GB/T 8156.6-1987 | 工业用氟化铝化学分析方法 钼蓝光度法测定硅量 | 废止 | 1988-06-01 | 相似 |
| GB/T 8156.5-1987 | 工业用氟化铝化学分析方法 火焰发射光度法测定钠量 | 废止 | 1988-06-01 | 相似 |
| GB/T 8156.3-1987 | 工业用氟化铝化学分析方法 蒸馏-硝酸钍容量法测定氟量 | 废止 | 1988-06-01 | 相似 |
| GB/T 8156.2-1987 | 工业用氟化铝化学分析方法 电量法测定水分含量 | 废止 | 1988-06-01 | 相似 |