| GB/T 15654-1995 | 电子设备用膜固定电阻网络 第1部分:总规范 | 现行 | 1995-07-24 | 1996-04-01 |
| GB/T 15662-1995 | 导电、防静电塑料体积电阻率测试方法 | 现行 | 1995-08-07 | 1996-04-01 |
| GB/T 12276-1990 | 电子设备用固定电阻器 第七部分:分规范 各电阻器不可单独测量的固定电阻网络 (可供认证用) | 现行 | 1990-03-15 | 1990-10-01 |
| GB/T 12277-1990 | 电子设备用固定电阻器 第七部分:空白详细规范 各电阻器不可单独测量的固定电阻网络 评定水平 E (可供认证用) | 现行 | 1990-03-15 | 1990-10-01 |
| GB/T 5735-1985 | 电子设备用固定电阻器 第五部分:空白详细规范 精密固定电阻器 评定水平E (可供认证用) | 现行 | 1985-09-26 | 1986-09-01 |
| GB/T 5078-1985 | 单向引出的电容器和电阻器所需空间的测定方法 | 废止 | 1985-04-16 | 1985-12-01 |
| GB/T 5732-1985 | 电子设备用固定电阻器 第四部分:分规范 功率型固定电阻器(可供认证用) | 现行 | 1985-11-26 | 1986-09-01 |
| GB/T 5730-1985 | 电子设备用固定电阻器 第二部分:分规范 低功率非线绕固定电阻器 (可供认证用) | 现行 | 1985-11-26 | 1986-09-01 |
| GB/T 5733-1985 | 电子设备用固定电阻器 第四部分:空白详细规范 功率型固定电阻器 评定水平E (可供认证用) | 现行 | 1985-11-26 | 1986-09-01 |
| GB/T 5731-1985 | 电子设备用固定电阻器 第二部分:空白详细规范 低功率非线绕固定电阻器 评定水平E(可供认证用) | 现行 | 1985-11-26 | 1986-09-01 |
| GB/T 5734-1985 | 电子设备用固定电阻器 第五部分:分规范 精密固定电阻器 (可供认证用) | 现行 | 1985-09-26 | 1986-09-01 |
| GB/T 4192-1984 | 电真空器件及电光源用钨、钼材料电阻率的测试方法 | 现行 | 1984-03-09 | 1984-11-01 |
| GB/T 24525-2009 | 炭素材料电阻率测定方法 | 现行 | 2009-10-30 | 2010-05-01 |
| GB/T 41708-2022 | 玻璃熔体电阻率试验方法 | 现行 | 2022-10-14 | 2023-02-01 |
| GB/T 16427-2018 | 粉尘层电阻率测定方法 | 现行 | 2018-12-28 | 2019-07-01 |
| GB/T 3411-1994 | 差动电阻式孔隙压力计 | 现行 | 1994-12-22 | 1995-10-01 |
| GB/T 2439-2001 | 硫化橡胶或热塑性橡胶 导电性能和耗散性能电阻率的测定 | 现行 | 2001-08-28 | 2002-05-01 |
| GB/T 4067-1999 | 金属材料电阻温度特征参数的测定 | 现行 | 1999-11-01 | 2000-08-01 |