Quartz crystal units of assessed quality—Part 6: Crystal units with thermistors
即将实施
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 15022.5-2011 | 电气绝缘用树脂基活性复合物 第5部分：石英填料环氧树脂复合物 | 现行 | 2011-12-30 | 2012-05-01 |
| JC/T 2392.2-2018 | 石英玻璃碇 第2部分：氢氧焰化学气相沉积法 | 现行 | 2018-10-22 | 2019-04-01 |
| JC/T 2392.4-2018 | 石英玻璃碇 第4部分：等离子体熔融法 | 现行 | 2018-10-22 | 2019-04-01 |
| JC/T 2392.3-2023 | 石英玻璃碇 第3部分：等离子化学气相沉积法 | 现行 | 2023-12-20 | 2024-07-01 |
| JC/T 2392-2017 | 石英玻璃锭 第1部分：气炼熔融法 | 现行 | 2017-04-12 | 2017-10-01 |
| SJ/T 11476.3-2014 | 光纤预制棒用材料 第3部分：石英套管 | 现行 | 2014-10-14 | 2015-04-01 |
| SJ/T 3328.10-2016 | 电子产品用高纯石英砂 第10部分 铅的测定 | 现行 | 2016-01-15 | 2016-06-01 |
| YY 0055.1-2009 | 牙科—光固化机 第1部分：石英钨卤素灯 | 废止 | 2009-06-16 | 2010-12-01 |
| SJ/T 3328.3-2016 | 电子产品用高纯石英砂 第3部分 灼烧失量的测定 | 现行 | 2016-01-15 | 2016-06-01 |
| SJ/T 3328.5-2016 | 电子产品用高纯石英砂 第5部分 铁的测定 | 现行 | 2016-01-15 | 2016-06-01 |
| SJ/T 3328.4-2016 | 电子产品用高纯石英砂 第4部分 二氧化硅的测定 | 现行 | 2016-01-15 | 2016-06-01 |
| SJ/T 3328.6-2016 | 电子产品用高纯石英砂 第6部分 铜的测定 | 现行 | 2016-01-15 | 2016-06-01 |
| SJ/T 3328.2-2016 | 电子产品用高纯石英砂 第2部分 分析方法通则 | 现行 | 2016-01-15 | 2016-06-01 |
| DZ/T 0184.6-2024 | 地质样品同位素分析方法 第6部分：脉石英 铷-锶体系同位素年龄测定 热电离质谱法 | 现行 | 2024-08-02 | 2024-10-01 |
| DZ/T 0462.7-2023 | 矿产资源“三率”指标要求 第7部分：石英岩、石英砂岩、脉石英、天然石英砂、粉石英 | 现行 | 2023-12-29 | 2024-04-01 |
| SJ/T 3328.8-2016 | 电子产品用高纯石英砂 第8部分 铝的测定 | 现行 | 2016-01-15 | 2016-06-01 |
| SJ/T 3328.1-2016 | 电子产品用高纯石英砂 第1部分 技术条件 | 现行 | 2016-01-15 | 2016-06-01 |
| SJ/T 3328.7-2016 | 电子产品用高纯石英砂 第7部分 铬的测定 | 现行 | 2016-01-15 | 2016-06-01 |