Optical circuit boards—Part 2-1: Basic test and measurement procedures—Optical attenuation and isolation measurements
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 18311.3-2001 | 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第3-3部分:检查和测量 监测衰减和回波损耗变化(多路) | 现行 | 2001-02-13 | 2001-08-01 |
| GB/T 18311.34-2003 | 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第3-34部分:检查和测量 随机配接连接器的衰减 | 现行 | 2003-11-24 | 2004-08-01 |
| GB/T 18311.5-2003 | 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第3-5部分:检查和测量衰减对波长的依赖性 | 现行 | 2003-11-24 | 2004-08-01 |
| GB/T 18311.4-2003 | 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第3-4部分:检查和测量衰减 | 现行 | 2003-11-24 | 2004-08-01 |
| GB/T 46385.21-2025 | 光路板 第2-1部分：基本试验和测量程序 光衰减与隔离度测量 | 即将实施 | 2025-10-31 | 2026-05-01 |
| GB/T 15972.40-2008 | 光纤试验方法规范 第40部分：传输特性和光学特性的测量方法和试验程序衰减 | 废止 | 2008-04-10 | 2008-11-01 |
| GB/T 15972.40-2024 | 光纤试验方法规范 第40部分：传输特性的测量方法和试验程序衰减 | 现行 | 2024-11-28 | 2025-03-01 |
| GB/T 5095.2502-2021 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-2部分：试验25b：衰减（插入损耗） | 现行 | 2021-03-09 | 2021-10-01 |
| GB/T 5095.2503-2021 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-3部分：试验25c：上升时间衰减 | 现行 | 2021-03-09 | 2021-10-01 |
| GB/T 18311.2-2001 | 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第3-2部分:检查和测量 单模纤维光学器件偏振依赖性 | 现行 | 2001-02-13 | 2001-08-01 |
| GB/T 18309.1-2001 | 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第1部分:总则和导则 | 现行 | 2001-02-13 | 2001-08-01 |
| GB/T 18310.39-2001 | 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第2-39部分:试验 对外界磁场敏感性 | 现行 | 2001-02-13 | 2001-08-01 |
| GB/T 18310.4-2001 | 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第2-4部分:试验 光纤/光缆保持力 | 现行 | 2001-02-13 | 2001-08-01 |
| GB/T 18310.18-2001 | 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第2-18部分:试验 干热 高温耐久性 | 现行 | 2001-02-13 | 2001-08-01 |
| GB/T 18310.6-2001 | 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第2-6部分:试验 锁紧机构抗拉强度 | 现行 | 2001-02-13 | 2001-08-01 |
| GB/T 18310.2-2001 | 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第2-2部分:试验 配接耐久性 | 现行 | 2001-02-13 | 2001-08-01 |
| GB/T 18310.12-2002 | 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第2-12部分:试验 撞击 | 现行 | 2002-12-04 | 2003-05-01 |
| GB/T 18310.19-2002 | 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第2-19部分:试验 恒定湿热 | 现行 | 2002-12-04 | 2003-05-01 |