| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 38532-2020 | 微束分析 电子背散射衍射 平均晶粒尺寸的测定 | 现行 | 2020-03-06 | 2021-02-01 |
| GB/T 19501-2013 | 微束分析 电子背散射衍射分析方法通则 | 现行 | 2013-07-19 | 2014-03-01 |
| GB/T 30904-2014 | 无机化工产品 晶型结构分析 X射线衍射法 | 现行 | 2014-07-08 | 2014-12-01 |
| GB/T 36923-2018 | 珍珠粉鉴别方法 X射线衍射分析法 | 现行 | 2018-12-28 | 2019-07-01 |
| GB/T 20724-2021 | 微束分析 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法 | 现行 | 2021-12-31 | 2022-07-01 |
| YS/T 1160-2016 | 工业硅粉定量相分析 二氧化硅含量的测定 X射线衍射K值法 | 现行 | 2016-07-11 | 2017-01-01 |
| DL/T 1151.22-2012 | 火力发电厂垢和腐蚀产物分析方法 第22部分：X-射线荧光光谱和X-射线衍射分析 | 废止 | 2012-08-23 | 2012-12-01 |
| SY/T 5163-2010 | 沉积岩中粘土矿物和常见非粘土矿物X衍射分析方法 | 废止 | 2010-05-24 | 2010-10-01 |
| YS/T 1178-2017 | 铝渣物相分析X射线衍射法 | 废止 | 2017-11-07 | 2018-04-01 |
| SY/T 6210-1996 | 沉积岩中粘土矿物总量和常见非粘土矿物X射线衍射定量分析方法 | 废止 | 1996-12-25 | 1997-06-30 |
| SY/T 5163-1995 | 沉积岩粘土矿物相对含量X 射线衍射分析方法 | 废止 | 1995-12-25 | 1996-06-30 |
| GB 16355-1996 | X射线衍射仪和荧光分析仪放射卫生防护标准 | 废止 | 1996-05-23 | 1996-12-01 |
| GB/T 19077-2016 | 粒度分析 激光衍射法 | 废止 | 2016-02-24 | 2016-06-01 |
| DB44/T 1078-2012 | 陶瓷原材料粒度分析 激光衍射法 | 废止 | 2012-11-23 | 2013-02-28 |
| GB/T 19077-2024 | 粒度分析 激光衍射法 | 现行 | 2024-10-26 | 2025-05-01 |
| GB/T 21782.13-2026 | 粉末涂料 第13部分：激光衍射法分析粒度 | 即将实施 | 2026-07-02 | 2027-02-01 |
| JC/T 2974-2026 | 非金属矿物 X 射线衍射分析方法 | 即将实施 | 2026-04-29 | 2026-11-01 |
| SN/T 3323.7-2023 | 氧化铁皮 第7部分：游离α-SiO2含量的测定 X射线衍射K值法 | 现行 | 2023-05-05 | 2023-12-01 |