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| GB/T 5095.2507-2021 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-7部分：试验25g：阻抗、反射系数和电压驻波比（VSWR） | 现行 | 2021-10-01 | 找相似 |
| GB/T 5095.2502-2021 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-2部分：试验25b：衰减（插入损耗） | 现行 | 2021-10-01 | 找相似 |
| GB/T 5095.2307-2021 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第23-7部分：屏蔽和滤波试验 试验23g：连接器的有效转移阻抗 | 现行 | 2021-10-01 | 找相似 |
| GB/T 5095.2304-2021 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第23-4部分：屏蔽和滤波试验 试验23d：时域内传输线的反射 | 现行 | 2021-10-01 | 找相似 |
| GB/T 5095.2501-2021 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-1部分：试验25a：串扰比 | 现行 | 2021-10-01 | 找相似 |
| GB/T 5095.2504-2021 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-4部分：试验25d：传输时延 | 现行 | 2021-10-01 | 找相似 |
| GB/T 5095.2503-2021 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-3部分：试验25c：上升时间衰减 | 现行 | 2021-10-01 | 找相似 |
| GB/T 5095.2506-2020 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-6部分：试验25f：眼图和抖动 | 现行 | 2020-11-01 | 找相似 |
| GB/T 5095.2509-2020 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-9部分：信号完整性试验 试验25i：外来串扰 | 现行 | 2020-11-01 | 找相似 |
| GB/T 3836.30-2021 | 爆炸性环境 第30部分：地下矿井爆炸性环境用设备和元件 | 现行 | 2022-05-01 | 找相似 |
| GB/T 14048.19-2013 | 低压开关设备和控制设备 第5-7部分：控制电路电器和开关元件 用于带模拟输出的接近设备的要求 | 现行 | 2014-04-09 | 找相似 |
| GB/T 14048.20-2013 | 低压开关设备和控制设备 第5-8部分：控制电路电器和开关元件 三位使能开关 | 现行 | 2014-04-09 | 找相似 |
| GB/T 14048.21-2013 | 低压开关设备和控制设备 第5-9部分：控制电路电器和开关元件 流量开关 | 现行 | 2014-04-09 | 找相似 |
| GB/T 14048.15-2006 | 低压开关设备和控制设备 第5-6部分：控制电路电器和开关元件-接近传感器和开关放大器的DC接口（NAMUR） | 现行 | 2007-04-01 | 找相似 |
| GB/T 14048.14-2019 | 低压开关设备和控制设备 第5-5部分：控制电路电器和开关元件 具有机械锁闩功能的电气紧急制动装置 | 现行 | 2020-01-01 | 找相似 |
| GB/T 38245-2019 | 光学和光学仪器 激光器和激光相关设备 激光光学元件吸收率测试方法 | 现行 | 2020-05-01 | 找相似 |
| GB/T 37396.1-2019 | 激光器和激光相关设备 标准光学元件 第1部分：紫外、可见和近红外光谱范围内的元件 | 现行 | 2019-12-01 | 找相似 |