Optical circuit boards—Part 2: Basic test and measurement procedures—General guidance for definition of measurement conditions for optical characteristics
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 42567.2-2023 | 工业过程测量变送器试验的参比条件和程序 第2部分：压力变送器的特定程序 | 现行 | 2023-05-23 | 2023-12-01 |
| GB/T 17213.18-2015 | 工业过程控制阀 第9部分: 阶跃输入响应测量的试验程序 | 现行 | 2015-12-10 | 2016-07-01 |
| GB/T 15972.55-2009 | 光纤试验方法规范 第55部分：环境性能的测量方法和试验程序-氢老化 | 现行 | 2009-09-30 | 2009-12-01 |
| GB/T 18271.3-2000 | 过程测量和控制装置 通用性能评定方法和程序 第3部分:影响量影响的试验 | 废止 | 2000-12-11 | 2001-05-01 |
| GB/T 18271.2-2000 | 过程测量和控制装置 通用性能评定方法和程序 第2部分:参比条件下的试验 | 废止 | 2000-12-11 | 2001-05-01 |
| GB/T 15972.54-2008 | 光纤试验方法规范 第54部分：环境性能的测量方法和试验程序 伽玛辐照 | 废止 | 2008-03-31 | 2008-11-01 |
| GB/T 15972.34-2008 | 光纤试验方法规范 第34部分：机械性能的测量方法和试验程序 光纤翘曲 | 废止 | 2008-03-31 | 2008-11-01 |
| GB/T 15972.33-2008 | 光纤试验方法规范 第33部分：机械性能的测量方法和试验程序 应力腐蚀敏感性参数 | 废止 | 2008-03-31 | 2008-11-01 |
| GB/T 15972.32-2008 | 光纤试验方法规范 第32部分：机械性能的测量方法和试验程序 涂覆层可剥性 | 废止 | 2008-03-31 | 2008-11-01 |
| GB/T 15972.31-2008 | 光纤试验方法规范 第31部分：机械性能的测量方法和试验程序 抗张强度 | 废止 | 2008-03-31 | 2008-11-01 |
| GB/T 15972.30-2008 | 光纤试验方法规范 第30部分：机械性能的测量方法和试验程序 光纤筛选试验 | 废止 | 2008-04-10 | 2008-11-01 |
| GB/T 15972.20-2008 | 光纤试验方法规范 第20部分：尺寸参数的测量方法和试验程序 光纤几何参数 | 废止 | 2008-04-10 | 2008-11-01 |
| GB/T 15972.10-2008 | 光纤试验方法规范 第10部分：测量方法和试验程序 总则 | 废止 | 2008-04-11 | 2008-11-01 |
| GB/T 15972.30-2021 | 光纤试验方法规范 第30部分：机械性能的测量方法和试验程序 光纤筛选试验 | 现行 | 2021-04-30 | 2021-11-01 |
| GB/T 15972.40-2024 | 光纤试验方法规范 第40部分：传输特性的测量方法和试验程序 衰减 | 现行 | 2024-11-28 | 2025-03-01 |
| GB/T 15972.33-2024 | 光纤试验方法规范 第33部分：机械性能的测量方法和试验程序 应力腐蚀敏感性参数 | 现行 | 2024-11-28 | 2025-03-01 |
| GB/T 15972.48-2026 | 光纤试验方法规范 第48部分：传输特性的测量方法和试验程序 偏振模色散 | 即将实施 | 2026-04-30 | 2026-11-01 |
| GB/T 38684-2020 | 金属材料 薄板和薄带 双轴应力-应变曲线胀形试验光学测量方法 | 现行 | 2020-03-31 | 2020-10-01 |