Standard method for showing andmeasuring dislocation etch pits in indium antimonide single crystal
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 22264.4-2008 | 安装式数字显示电测量仪表 第4部分：频率表的特殊要求（外文版EN） | 废止 | 2018-10-10 | |
| GB/T 22264.5-2008 | 安装式数字显示电测量仪表 第5部分：相位表和功率因数表的特殊要求（外文版EN） | 废止 | 2018-10-10 | |
| GB/T 22264.6-2009 | 安装式数字显示电测量仪表 第6部分：绝缘电阻表的特殊要求（外文版EN） | 废止 | 2018-10-10 | |
| GB/T 32642-2016 | 平板显示器基板玻璃表面粗糙度的测量方法 | 废止 | 2016-04-25 | 2016-11-01 |
| GB/T 32643-2016 | 平板显示器基板玻璃表面波纹度的测量方法 | 废止 | 2016-04-25 | 2016-11-01 |
| SJ/T 11348-2016 | 平板电视显示性能测量方法 | 废止 | 2016-01-15 | 2016-06-01 |
| SN/T 1667.2-2007 | 进出口机电产品检测方法 第2部分：彩色液晶显示器件电光性能的测量 | 废止 | 2007-12-24 | 2008-07-01 |
| SJ/T 11348-2006 | 数字电视平板显示器测量方法 | 废止 | 2006-03-29 | 2006-03-29 |
| DB35/T 1369-2013 | LED显示屏现场测量方法 | 废止 | 2013-12-04 | 2014-03-01 |
| DY/Z 14.3-2026 | 虚拟现实电影 第3部分：头戴式显示设备技术要求和测量方法 | 现行 | 2026-06-24 | 2026-06-24 |
| GB/T 22181.22-2008 | 等离子体显示器件 第2-2部分：光电参数测量方法 | 废止 | 2008-06-28 | 2008-11-01 |
| GB/T 22181.21-2008 | 等离子体显示器件 第2-1部分：光学参数测量方法 | 废止 | 2008-06-28 | 2008-11-01 |
| GB/T 22264.1-2008 | 安装式数字显示电测量仪表 第1部分：定义和通用要求 | 废止 | 2008-08-06 | 2009-03-01 |
| GB/T 22264.7-2008 | 安装式数字显示电测量仪表 第7部分：多功能仪表的特殊要求 | 废止 | 2008-12-15 | 2009-06-01 |
| GB/T 22264.5-2008 | 安装式数字显示电测量仪表 第5部分：相位表和功率因数表的特殊要求 | 废止 | 2008-12-15 | 2009-06-01 |
| GB/T 22264.4-2008 | 安装式数字显示电测量仪表 第4部分：频率表的特殊要求 | 废止 | 2008-12-15 | 2009-06-01 |
| GB/T 22264.3-2008 | 安装式数字显示电测量仪表 第3部分：功率表和无功功率表的特殊要求 | 废止 | 2008-12-15 | 2009-06-01 |
| GB/T 22264.2-2008 | 安装式数字显示电测量仪表 第2部分：电流表和电压表的特殊要求 | 废止 | 2008-12-15 | 2009-06-01 |