Lamp controlgear - Part 2: Particular requirements for starting devices (other than glow starters)
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 实施日期 | 相似标准 |
|---|---|---|---|---|
| YS/T 1012-2014 | 高纯镍化学分析方法 杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法 | 废止 | 2015-04-01 | 找相似 |
| YS/T 1011-2014 | 高纯钴化学分析方法 杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法 | 废止 | 2015-04-01 | 找相似 |
| YS/T 871-2013 | 高纯铝化学分析方法 痕量杂质元素的测定 辉光放电质谱法 | 废止 | 2013-09-01 | 找相似 |
| YS/T 899-2013 | 高纯钽化学分析方法 痕量杂质元素的测定 辉光放电质谱法 | 废止 | 2014-03-01 | 找相似 |
| YS/T 891-2013 | 高纯钛化学分析方法 痕量杂质元素的测定 辉光放电质谱法 | 废止 | 2014-03-01 | 找相似 |
| YS/T 897-2013 | 高纯铌化学分析方法 痕量杂质元素的测定 辉光放电质谱法 | 废止 | 2014-03-01 | 找相似 |
| YS/T 901-2013 | 高纯钨化学分析方法 痕量杂质元素的测定 辉光放电质谱法 | 废止 | 2014-03-01 | 找相似 |
| YS/T 981.1-2014 | 高纯铟化学分析方法 镁、铝、硅、硫、铁、镍、铜、锌、砷、银、镉、锡、铊、铅的测定 高质量分辨率辉光放电质谱法 | 废止 | 2015-04-01 | 找相似 |
| GB/T 13946-1992 | 辉光放电显示管空白详细规范(可供认证用) | 废止 | 1993-08-01 | 找相似 |
| GB/T 19502-2004 | 表面化学分析 辉光放电发射光谱方法通则 | 废止 | 2004-12-01 | 找相似 |
| GB/T 32996-2016 | 表面化学分析 辉光放电发射光谱法分析金属氧化物膜 | 废止 | 2017-09-01 | 找相似 |
| DB35/T 1146-2011 | 硅材料中杂质元素含量测定 辉光放电质谱法 [福建省] | 废止 | 2011-07-10 | 找相似 |
| GB/Z 122-2025 | 表面化学分析 辉光放电质谱 操作程序 | 现行 | —— | 找相似 |
| T/CSTM 00445-2021 | 辉光放电质谱仪校准规范 | 现行 | 2021-06-03 | —— |
| XB/T 633-2023 | 稀土氧化物中杂质元素化学分析方法 辉光放电质谱法 | 现行 | 2024-07-01 | 找相似 |
| YS/T 1012-2025 | 高纯镍化学分析方法 杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法 | 现行 | 2026-03-01 | 找相似 |
| YS/T 1011-2025 | 高纯钴化学分析方法 杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法 | 现行 | 2026-03-01 | 找相似 |
| YS/T 901-2024 | 高纯钨化学分析方法 痕量元素含量的测定 辉光放电质谱法 | 现行 | 2025-05-01 | 找相似 |