Test method for warp of silicon wafers—Automated non-contact scanning method
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 实施日期 | 相似标准 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 33740-2017 | 手机支付 基于2.45GHz RCC（限域通信）技术的非接触射频接口测试方法 | 现行 | 2017-12-01 | 找相似 |
| JB/T 5809-2007 | 真空接触器截止电流测试方法 | 现行 | 2007-11-01 | 找相似 |
| JB/T 8250.2-1999 | 闪光灯接触效率和闪光接触持续时间 测试方法 | 现行 | 2000-01-01 | 找相似 |
| GB/T 41232.3-2023 | 纳米制造 关键控制特性 纳米储能 第3部分：纳米材料接触电阻率和涂层电阻率的测试 | 现行 | 2023-12-01 | 找相似 |
| YD/T 3793.1-2020 | 数字移动通信终端通用集成电路卡（UICC）与非接触通信模块（CLF）间单线协议（SWP）测试方法 第1部分：终端特性 | 现行 | 2021-01-01 | 找相似 |
| YD/T 3793.2-2020 | 数字移动通信终端通用集成电路卡（UICC）与非接触通信模块（CLF）间单线协议（SWP）测试方法 第2部分：UICC特性 | 现行 | 2021-01-01 | 找相似 |
| YD/T 3795.1-2020 | 数字移动通信终端通用集成电路卡（UICC）与非接触通信模块（CLF）间主控接口（HCI）测试方法 第1部分：终端特性 | 现行 | 2021-01-01 | 找相似 |
| YD/T 3795.2-2020 | 数字移动通信终端通用集成电路卡（UICC）与非接触通信模块（CLF）间主控接口（HCI）测试方法 第2部分：UICC特性 | 现行 | 2021-01-01 | 找相似 |
| GB/T 34096-2017 | 手机支付 基于2.45GHz RCC（限域通信）技术的非接触式读写器终端测试方法 | 现行 | 2018-02-01 | 找相似 |
| SJ/T 10576-1994 | 接触器用真空开关管测试方法 | 现行 | 1994-12-01 | 找相似 |
| GB/T 33739-2017 | 基于13.56MHz和2.45GHz双频技术的非接触式读写器射频接口测试方法 | 现行 | 2017-12-01 | 找相似 |
| T/CPIA 0051-2023 | 晶体硅光伏电池金属电极接触电阻率测试方法 传输线模型法（TLM） | 现行 | 2023-10-30 | —— |
| T/TCMCA 0015-2020 | 汽车变速器总成齿轮接触斑点加载测试方法 | 现行 | 2021-02-26 | —— |
| SY/T 7852.2-2025 | 注入气-地层流体相态物性测试方法 第2部分：多次接触实验 | 现行 | 2026-03-28 | 找相似 |
| YD/T 3246-2017 | 手机支付 基于13.56MHz近场通信技术的非接触式销售点终端测试方法 | 现行 | 2017-07-01 | 找相似 |
| SN/T 2817-2011 | 出口食品接触材料 高分子材料 橄榄油模拟物中总迁移量的试验方法 测试池法 | 现行 | 2011-07-01 | 找相似 |
| SN/T 2820-2011 | 出口食品接触材料 高分子材料 水基食品模拟物中总迁移量的试验方法 测试池法 | 现行 | 2011-07-01 | 找相似 |
| JB/T 8250.2-1995 | 闪光接触效率和闪光接触持续时间测试方法 | 废止 | 1996-04-14 | 找相似 |