Non-destructive testing—Nonlinear ultrasonic testing method of microstructure damage
现行
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 6814-1986 | 半导体集成非线性电路系列和品种 模拟开关的品种 | 废止 | 1986-08-27 | 1987-08-01 |
| GB/T 6813-1986 | 半导体集成非线性电路系列和品种 时基电路的品种 | 废止 | 1986-08-27 | 1987-08-01 |
| GB/T 6815-1986 | 半导体集成非线性电路系列和品种 锁相环的品种 | 废止 | 1986-08-27 | 1987-08-01 |
| GB/T 6812-1986 | 半导体集成非线性电路系列和品种 模拟乘-除法器的品种 | 废止 | 1986-08-27 | 1987-08-01 |
| GB/T 12845-1991 | 半导体集成电路非线性电路系列和品种 电压/ 频率和频率/ 电压转换器的品种 | 废止 | 1991-04-28 | 1991-12-01 |
| GB/T 12844-1991 | 半导体集成电路非线性电路系列和品种 采样/ 保持放大器的品种 | 废止 | 1991-04-28 | 1991-12-01 |
| GB/T 16515-1996 | 电子设备用电位器 第5部分:分规范 单圈旋转式低功率线绕和非线绕电位器 | 废止 | 1996-09-09 | 1997-05-01 |
| GB/T 17034-1997 | 电子设备用固定电阻器 第2部分:空白详细规范 低功率非线绕固定电阻器 评定水平F | 废止 | 1997-10-13 | 1998-09-01 |
| GB/T 22453-2008 | 硼酸盐非线性光学单晶元件质量测试方法 | 废止 | 2008-10-07 | 2009-04-01 |
| GB/T 22452-2008 | 硼酸盐非线性光学单晶元件通用技术条件 | 废止 | 2008-10-07 | 2009-04-01 |
| DB42/T 718-2011 | 冲击性、非线性负荷接入电网电能质量技术管理规范 | 废止 | 2011-04-19 | 2011-06-01 |
| DB35/T 1118-2011 | 抗灰迹磷酸钛氧钾非线性光学单晶元件 | 废止 | 2011-03-07 | 2011-06-01 |
| GB/T 7017-2025 | 电阻器非线性测量方法 | 即将实施 | 2025-12-02 | 2026-07-01 |
| GA 1236-2015 | 非线性结点探测器 | 现行 | 2015-01-29 | 2015-05-01 |
| Q/GDW 10415-2019 | 电磁式电压互感器用非线性电阻型消谐器技术规范 | 现行 | 2020-11-09 | 2020-11-09 |
| DB36/T 1816-2023 | 船撞后桥梁损伤应急检测技术规程 | 现行 | 2023-08-09 | 2024-02-01 |
| T/ZFL 022-2023 | 基于非损伤微测技术的拟南芥根毛细胞硝态氮和铵态氮吸收检测方法 | 现行 | 2023-02-28 | 2023-03-01 |
| T/ZFL 022-2022 | 基于非损伤微测技术的拟南芥根毛细胞硝态氮和铵态氮吸收检测方法 | 现行 | 2022-12-07 | 2022-12-07 |