Method for chemical analysis of high purity silver—Determination of trace impurity elements contents—Glow discharge mass spectrometry
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| T/CSTM 00780.3-2023 | 钒酸钠分析方法 第3部分：硅铝等12种杂质元素含量的测定 电感耦合等离子体光谱法 | 现行 | 2023-02-28 | 2023-05-28 |
| YS/T 1496-2021 | 钯化合物分析方法杂质阴离子含量测定 离子色谱法 | 现行 | 2021-12-02 | 2022-04-01 |
| YS/T 1497-2021 | 铂化合物分析方法杂质阴离子含量测定 离子色谱法 | 现行 | 2021-12-02 | 2022-04-01 |
| SJ/T 10553-2021 | 电子陶瓷用二氧化锆中杂质的发射光谱分析方法 | 现行 | 2021-03-05 | 2021-06-01 |
| SJ/T 10552-2021 | 电子陶瓷用二氧化钛中杂质的发射光谱分析方法 | 现行 | 2021-03-05 | 2021-06-01 |
| SJ/T 10551-2021 | 电子陶瓷用三氧化二铝中杂质的发射光谱分析方法 | 现行 | 2021-03-05 | 2021-06-01 |
| EJ/T 1231.1-2008 | 重铀酸盐中杂质分析方法 第1部分：二氧化硅的测定 硅钼蓝分光光度法 | 现行 | 2008-03-17 | 2008-10-01 |
| EJ/T 1231.4-2008 | 重铀酸盐中杂质分析方法 第4部分：氟和氯的测定 离子选择性电极法 | 现行 | 2008-03-17 | 2008-10-01 |
| EJ/T 1212.4-2008 | 烧结氧化钆-二氧化铀芯块分析方法 第4部分：微量杂质元素的测定—ICP-AES多元图谱拟合法 | 现行 | 2008-03-17 | 2008-10-01 |
| EJ/T 1231.2-2008 | 重铀酸盐中杂质分析方法 第2部分：磷酸根的测定 磷钼蓝分光光度法 | 现行 | 2008-03-17 | 2008-10-01 |
| EJ/T 1231.3-2008 | 重铀酸盐中杂质分析方法 第3部分：硫酸根的测定 硫酸钡比浊法 | 现行 | 2008-03-17 | 2008-10-01 |
| GB/T 4298-1984 | 半导体硅材料中杂质元素的活化分析方法 | 废止 | 1984-03-28 | 1985-03-01 |
| GB/T 11113-1989 | 人造石英晶体中杂质的分析方法 | 废止 | 1989-03-31 | 1990-03-01 |
| GB/T 10726-2007 | 化学试剂 溶剂萃取-原子吸收光谱法测定金属杂质通用方法 | 现行 | 2007-09-26 | 2008-04-01 |
| GA/T 841-2021 | 基于离子迁移谱技术的痕量毒品/炸药探测仪通用技术要求 | 现行 | 2021-09-17 | 2021-12-01 |
| GB/T 32650-2016 | 电感耦合等离子质谱法检测石英砂中痕量元素 | 现行 | 2016-04-25 | 2016-11-01 |
| GB/T 20127.1-2006 | 钢铁及合金 痕量元素的测定 第1部分：石墨炉原子吸收光谱法测定银含量 | 现行 | 2006-03-02 | 2006-09-01 |
| SH/T 1769-2025 | 工业用乙烯、丙烯 痕量硫化物的测定 气相色谱法 | 现行 | 2025-04-10 | 2025-11-01 |