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工业硅 第1页

更新日期 2026‑10‑16
标准号标准名称状态发布日期实施日期
GB/T 14849.1-2020工业硅化学分析方法 第1部分:铁含量的测定现行2020-03-062021-02-01
GB/T 14849.8-2015工业硅化学分析方法 第8部分:铜含量的测定 原子吸收光谱法现行2015-09-112016-08-01
GB/T 14849.4-2014工业硅化学分析方法 第4部分:杂质元素含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法现行2014-12-052015-08-01
GB/T 14849.3-2020工业硅化学分析方法 第3部分:钙含量的测定现行2020-03-062021-02-01
GB/T 14849.6-2014工业硅化学分析方法 第6部分:碳含量的测定 红外吸收法现行2014-12-052015-05-01
GB/T 2881-2023工业硅现行2023-12-282024-07-01
GB/T 14849.10-2016工业硅化学分析方法 第10部分:汞含量的测定 原子荧光光谱法现行2016-08-292017-07-01
GB/T 32151.41-2024温室气体排放核算与报告要求 第41部分:工业硅生产企业现行2024-09-292025-04-01
GB/T 14849.2-2007工业硅化学分析方法 第2部分:铝含量的测定 铬天青-S分光光度法现行2007-10-252008-04-01
YS/T 1185-2017工业硅安全生产规范现行2017-11-072018-04-01
DB53/T 911.10-2022能源资源计量数据采集与监测指南 第10部分:工业硅企业现行2022-05-202022-08-20
GB/T 14849.7-2015工业硅化学分析方法 第7部分:磷含量的测定 磷钼蓝分光光度法现行2015-09-112016-06-01
GB/T 14849.11-2016工业硅化学分析方法 第11部分:铬含量的测定 二苯碳酰二肼分光光度法现行2016-08-292017-07-01
GB/T 14849.9-2015工业硅化学分析方法 第9部分:钛含量的测定 二安替吡啉甲烷分光光度法现行2015-09-112016-06-01
GB/T 14849.5-2014工业硅化学分析方法 第5部分:杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法现行2014-12-052015-05-01