| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 32280-2015 | 硅片翘曲度测试 自动非接触扫描法 | 废止 | 2015-12-10 | 2017-01-01 |
| GB/T 42968.9-2025 | 集成电路 电磁抗扰度测量 第9部分：辐射抗扰度测量 表面扫描法 | 现行 | 2025-12-02 | 2025-12-02 |
| GB/T 44937.3-2025 | 集成电路 电磁发射测量 第3部分：辐射发射测量 表面扫描法 | 即将实施 | 2025-12-31 | 2026-07-01 |
| JC/T 2851-2024 | 光学石英玻璃应力双折射试验方法 点扫描法 | 现行 | 2024-10-24 | 2025-05-01 |
| T/CSIQ 3103-2015 | 陶瓷艺术品内部微观结构测试方法 X射线计算机断层扫描法 | 现行 | 2015-12-29 | 2016-06-01 |