| GB/T 17206-1998 | 电子设备用固定电容器 第18部分:分规范 固体(MnO2)与非固体电解质片式铝固定电容器 | 现行 | 1998-01-19 | 1998-09-01 |
| GB/T 5095.5-1997 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第5部分:撞击试验(自由元件)、静负荷试验(固定元件)、寿命试验和过负荷试验 | 现行 | 1997-12-26 | 1998-10-01 |
| GB/T 5095.15-1997 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第15部分:接触件和引出端的机械试验 第八篇:试验15h接触件固定机构耐工具使用性 | 现行 | 1997-12-26 | 1998-10-01 |
| GB/T 17208-1998 | 电子设备用固定电容器 第18部分:空白详细规范 非固体电解质片式铝固定电容器 评定水平E | 现行 | 1998-01-19 | 1998-09-01 |
| HJ/ T67-2001 | 大气固定污染源 氟化物的测定 离子选择电极法 | 现行 | 2001-07-27 | 2001-11-01 |
| GB/T 16512-1996 | 抑制射频干扰固定电感器 第1部分 总规范 | 现行 | 1996-09-09 | 1997-05-01 |
| GB/T 16513-1996 | 抑制射频干扰固定电感器 第2部分 分规范 试验方法和一般要求的选择 | 现行 | 1996-09-09 | 1997-05-01 |
| GB/T 15654-1995 | 电子设备用膜固定电阻网络 第1部分:总规范 | 现行 | 1995-07-24 | 1996-04-01 |
| GB/T 14004-1992 | 电子设备用固定电容器 第6部分:分规范 金属化聚碳酸酯膜介质直流固定电容器(可供认证用) | 现行 | 1992-12-17 | 1993-08-01 |
| GB/T 13921-1992 | 关于固定结构特别是建筑物和海上结构的居住者对低频(0.063～1Hz)水平运动响应的评价导则 | 现行 | 1992-12-07 | 1993-10-01 |
| GB/T 14005-1992 | 电子设备用固定电容器 第6部分:空白详细规范 金属化聚碳酸酯膜介质直流固定电容器 评定水平 E(可供认证用) | 现行 | 1992-12-17 | 1993-08-01 |
| GB/T 12276-1990 | 电子设备用固定电阻器 第七部分:分规范 各电阻器不可单独测量的固定电阻网络 (可供认证用) | 现行 | 1990-03-15 | 1990-10-01 |
| GB/T 12277-1990 | 电子设备用固定电阻器 第七部分:空白详细规范 各电阻器不可单独测量的固定电阻网络 评定水平 E (可供认证用) | 现行 | 1990-03-15 | 1990-10-01 |
| GB/T 5735-1985 | 电子设备用固定电阻器 第五部分:空白详细规范 精密固定电阻器 评定水平E (可供认证用) | 现行 | 1985-09-26 | 1986-09-01 |
| GB/T 5732-1985 | 电子设备用固定电阻器 第四部分:分规范 功率型固定电阻器(可供认证用) | 现行 | 1985-11-26 | 1986-09-01 |