| JB 5835-1991 | 电力半导体器件用门极组合件 | 现行 | 1991-10-24 | 1992-10-01 |
| GB/T 4937.9-2026 | 半导体器件 机械和气候试验方法 第9部分：标志耐久性 | 即将实施 | 2026-02-27 | 2026-09-01 |
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| GB/T 4937.16-2025 | 半导体器件 机械和气候试验方法 第16部分：粒子碰撞噪声检测（PIND） | 即将实施 | 2025-10-31 | 2026-05-01 |
| GB/T 18310.23-2025 | 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第2-23部分：试验 非加压式接头盒的密封 | 即将实施 | 2025-10-31 | 2026-05-01 |
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| GB/T 6495.10-2025 | 光伏器件 第10部分：线性相关性和线性特性测量方法 | 即将实施 | 2025-12-31 | 2026-07-01 |