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| GB/T 45716-2025 | 半导体器件 金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFETs)的偏置温度不稳定性试验 | 现行 | 2025-05-30 | 2025-09-01 |
| GB/T 32550-2016 | 金属和合金的腐蚀 恒电位控制下的临界点蚀温度测定 | 现行 | 2016-02-24 | 2016-11-01 |