主要技术内容
本标准规定了光谱范围为190nm～1100 nm的光谱仪器用线阵电荷耦合成像器件的术语和参数测试方法。本标准适用于光谱范围为190nm～1100 nm的光谱仪器用线阵电荷耦合成像器件（以下简称CCD器件）的参数测试。
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Testing Methods for Optical/Electrical Characteristics of Linear ChargeCoupled Imaging Device for Spectrometer
现行
2016-12-10
2017-03-15
T/CAIA YQ003-2016
中国分析测试协会
否
31.260
C401 通用仪器仪表制造
团体标准
本标准规定了光谱范围为190nm～1100 nm的光谱仪器用线阵电荷耦合成像器件的术语和参数测试方法。 本标准适用于光谱范围为190nm～1100 nm的光谱仪器用线阵电荷耦合成像器件（以下简称CCD器件）的参数测试。
本标准规定了光谱范围为190nm～1100 nm的光谱仪器用线阵电荷耦合成像器件的术语和参数测试方法。本标准适用于光谱范围为190nm～1100 nm的光谱仪器用线阵电荷耦合成像器件（以下简称CCD器件）的参数测试。
中国电子科技集团公司第四十四研究所、钢研纳克检测技术有限公司、清华大学、烟台东方分析仪器有限公司、聚光科技（杭州）股份有限公司、天津大学、上海理工大学
陈吉文、李金、汪朝敏、姚鸿、屈小艳、陈红兵、唐遵烈、丁振敏、孙利群、赵珍阳、吕全超、赵友全、陶春先、马华平
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