汽车用石英晶体元件可靠性试验

Reliability test of quartz crystal units for automobiles

T/CECA 99-2024制造业

现行

更新日期:2026-09-12

标准状态

发布日期

2024-07-23

实施日期

2024-08-01

基础信息

标准号

T/CECA 99-2024

包含专利

否

标准分类

中国标准分类号

L21

国际标准分类号

31.140

标准层级

团体标准

主要技术内容

本文件确立了汽车用石英晶体元件的可靠性试验程序,并规定了可靠性试验方法。本文件适用于汽车用石英晶体元件的可靠性试验,包含表面贴装(Surface Mounted Devices, SMD)晶体元件和插件式晶体元件、线状引出端(Through Hole Device, THD)晶体元件。

起草单位

广东惠伦晶体科技股份有限公司、浙江汇隆晶片技术有限公司、泰晶科技股份有限公司、安徽晶赛科技股份有限公司、珠海东精大电子科技有限公司、南京中电熊猫晶体科技有限公司、武汉海创电子股份有限公司、深圳市晶峰晶体科技有限公司、河北远东通信系统工程有限公司、金华市创捷电子有限公司、唐山国芯晶源电子有限公司、成都晶宝时频技术股份有限公司、日照旭日电子有限公司、三生电子(天津)有限公司、江苏浩都频率科技有限公司、东晶电子金华有限公司、台晶(宁波)电子有限公司、鸿星科技(集团)股份有限公司、宁波晶创科技有限公司、华为技术有限公司、比亚迪汽车工业有限公司、烟台明德亨电子科技有限公司、成都世源晶电科技有限公司、绍兴奥美电子科技有限公司、北京晨晶电子有限公司

起草人

赵积清、邢越、黄虎、刘峰、叶国萍、许哲隆、孟田、孙晓明、詹超、陈维彦、胡孔亮、谢尚平、孙川、高志祥、李坡、毛晶、熊卉芳、高青、刘其胜、张建伟、王盼、陈康、胡勍波、徐建民、李永斌、刘青彦,黄建友、刘思军、张传哲、王秋贞、祝希坚、尚虎、耿健、王晓东、李凯、沈俊男、徐俊俊、余剑、吴中林、班建珍、张国庆、卢艳东、黄琳、陈光星、黄屹、欧阳林、田培洪、夏春城、陈涵瀚、邓国华、魏金鑫、张健

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