半导体晶圆缺陷自动光学检测设备

Wafer defects Automatic optical inspection equipment

T/CZSBDTHYXH 001-2023 制造业

现行

标准状态

发布日期

2023-08-08

实施日期

2023-08-09

基础信息

标准号

T/CZSBDTHYXH 001-2023

团体名称

常州市半导体行业协会

包含专利

标准分类

国际标准分类号

29.045

行业分类

C356 电子和电工机械专用设备制造

标准层级

团体标准

主要技术内容

本标准规定了半导体晶圆缺陷光学检测仪的术语和定义、产品型号、要求、检验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存要求。

起草单位

江苏维普光电科技有限公司、常州市半导体行业协会、国家半导体照明产品质量检验检测中心(江苏)(常州检验检测标准认证研究院)、常州工学院

起草人

刘建明、刘庄、张彦鹏、周佼、王宏才、郭魂、张鸣杰

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