Quartz crystal units--A specification in the quality assessment system for electronic components--Part 3:Sectional specification--Qualification approval
现行
1996-09-09
1997-05-01
GB/T 16517-1996
工业和信息化部(电子)
工业和信息化部(电子)
该标准采用国际标准
L21
31.020
国家标准
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 16516-1996 | 石英晶体元件 电子元器件质量评定体系规范 第2部分:分规范 能力批准 | 现行 | 1996-09-09 | 1996-05-01 |
| GB/T 16517-1996 | 石英晶体元件 电子元器件质量评定体系规范 第3部分:分规范 鉴定批准 | 现行 | 1996-09-09 | 1997-05-01 |
| NB/T 10200-2019 | 晶体硅太阳电池组件用聚烯烃弹性体(POE)封装绝缘胶膜 | 现行 | 2019-06-04 | 2019-10-01 |
| GB/T 8553-2023 | 晶体盒总规范 | 现行 | 2023-09-07 | 2024-01-01 |
| GB/T 12633-1990 | 压电晶体性能测试术语 | 现行 | 1990-12-28 | 1991-10-01 |
| GB/T 16651-1996 | 消息处理系统 电子数据交换消息处理系统 | 现行 | 1996-12-17 | 1997-07-01 |
| GB/T 5080.6-1996 | 设备可靠性试验 恒定失效率假设的有效性检验 | 现行 | 1996-09-09 | 1997-05-01 |