Guideline for programmed defect masks and benchmark procedures for sensitivity analysisof mask defect inspection systems
现行
1999-09-13
2000-06-01
GB/T 17866-1999
国家标准委
国家质量技术监督局
国家标准委
该标准采用国际标准
L56
31.200
国家标准
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 17866-1999 | 掩模缺陷检查系统灵敏度分析所用的特制缺陷掩模和评估测量方法准则 | 现行 | 1999-09-13 | 2000-06-01 |
| GB/T 16880-1997 | 光掩模缺陷分类和尺寸定义的准则 | 现行 | 1997-06-20 | 1998-03-01 |
| GB/T 30020-2023 | 玻璃缺陷检测方法 光弹扫描法 | 现行 | 2023-03-17 | 2023-10-01 |
| GB 10408.4-2000 | 入侵探测器 第4部分:主动红外入侵探测器 | 现行 | 2000-10-17 | 2001-06-01 |
| GB 10408.5-2000 | 入侵探测器 第5部分:室内用被动红外探测器 | 现行 | 2000-10-17 | 2001-06-01 |