Semiconductor devices--Part 12-3:Optoelectronic devices--Blank detail specification for light-emitting diodes--Display application
1990-12-06
2003-05-01
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 1526-1989 | 信息处理 数据流程图、程序流程图、系统流程图、程序网络图和系统资源图的文件编制符号及约定 | 现行 | 1989-06-12 | 1990-01-01 |
| SJ/T 12076-2025 | 硅基光电子芯片封装设计导则 | 现行 | 2025-12-19 | 2026-07-01 |
| SJ/T 12075-2025 | 硅基光电子工艺设计包通用要求 | 现行 | 2025-12-19 | 2026-07-01 |
| SJ/T 12074-2025 | 光通信用硅基光电子芯片晶圆级测试方法 | 现行 | 2025-12-19 | 2026-07-01 |
| ZJM-001-2619-2019 | 7N光电子级超纯氨 | 现行 | 2019-12-17 | 2019-12-17 |
| YD/T 6449-2025 | 通信用非气密光电子器件可靠性试验方法 | 现行 | 2025-07-02 | 2025-11-01 |
| T/ZZB 1373-2019 | 7N 光电子级超纯氨 | 现行 | 2019-11-27 | 2019-12-31 |
| T/ZZB 1373-2019 | 7N 光电子级超纯氨 | 现行 | 2019-11-27 | 2019-12-31 |
| GB/T 31472-2015 | X光电子能谱中荷电控制和荷电基准技术标准指南 | 现行 | 2015-05-15 | 2016-01-01 |