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Surface chemical analysis—Secondary-ion mass spectrometry—Determination of boron atomic concentration in silicon using uniformly doped materials
现行
2025-06-30
2026-01-01
GB/T 20176-2025
中国科学院
国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
中国科学院
该标准采用国际标准
G04
71.040.40
国家标准
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 45769-2025 | 表面化学分析 X射线光电子能谱 均匀材料中元素检测限的评估和报告 | 现行 | 2025-06-30 | 2026-01-01 |
| GB/T 40109-2021 | 表面化学分析 二次离子质谱 硅中硼深度剖析方法 | 现行 | 2021-05-21 | 2021-12-01 |
| GB/T 32996-2025 | 表面化学分析 辉光放电发射光谱法分析金属氧化物膜 | 现行 | 2025-06-30 | 2026-01-01 |
| GB/T 32999-2016 | 表面化学分析 深度剖析 用机械轮廓仪栅网复型法测量溅射速率 | 现行 | 2016-10-13 | 2017-09-01 |
| GB/T 20175-2025 | 表面化学分析 溅射深度剖析 用层状膜系为参考物质的优化方法 | 现行 | 2025-06-30 | 2026-01-01 |
| GB/T 6609.31-2009 | 氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法 第31部分：流动角的测定 | 现行 | 2009-04-15 | 2010-02-01 |
| GB/T 42513.2-2023 | 镍合金化学分析方法 第2部分：磷含量的测定 钼蓝分光光度法 | 现行 | 2023-11-27 | 2024-06-01 |
| GB/T 45768-2025 | 表面化学分析 二次离子质谱 单离子计数飞行时间质谱分析器的强度标线性 | 现行 | 2025-06-30 | 2026-01-01 |
| GB/T 22572-2008 | 表面化学分析 二次离子质谱 用多δ层参考物质评估深度分辨参数的方法 | 现行 | 2008-12-11 | 2009-10-01 |
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| GB/T 21114-2019 | 耐火材料 X射线荧光光谱化学分析 熔铸玻璃片法 | 现行 | 2019-06-04 | 2020-05-01 |
| GB/T 42513.5-2023 | 镍合金化学分析方法 第5部分：钒含量测定 一氧化二氮-火焰原子吸收光谱法和电感耦合等离子体原子发射光谱法 | 现行 | 2023-11-27 | 2024-06-01 |
| GB/T 223.30-1994 | 钢铁及合金化学分析方法 对-溴苦杏仁酸沉淀分离-偶氮胂Ⅲ分光光度法测定锆量 | 现行 | 1994-09-26 | 1995-06-01 |
| GB/T 6609.33-2009 | 氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法 第33部分：磨损指数的测定 | 现行 | 2009-04-15 | 2010-02-01 |
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| GB/T 20975.17-2020 | 铝及铝合金化学分析方法 第17部分：锶含量的测定 | 现行 | 2020-09-29 | 2021-08-01 |
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| GB/T 8152.11-2023 | 铅精矿化学分析方法 第11部分：汞含量的测定 原子荧光光谱法和固体进样直接法 | 现行 | 2023-05-23 | 2023-12-01 |
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| GB/T 20931.5-2007 | 锂化学分析方法 硅量的测定 硅钼蓝分光光度法 | 现行 | 2007-04-30 | 2007-11-01 |
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