Test methods for photoluminescence analysis of single crystal silicon for III-V impurities
现行
2009-10-30
2010-06-01
GB/T 24574-2009
国家标准委
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
国家标准委
该标准采用国际标准
H80
29.045
国家标准
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| DB13/T 6139-2025 | 高纯溴化氢中杂质的检测 | 现行 | 2025-05-27 | 2025-06-03 |
| GB/T 3780.12-2007 | 炭黑 第12部分：杂质的检查 | 现行 | 2007-11-28 | 2008-06-01 |
| GB/T 3391-2002 | 工业用乙烯中烃类杂质的测定 气相色谱法 | 现行 | 2002-10-15 | 2003-04-01 |
| DB13/T 6136-2025 | 1.25%氪气/氖气混合气中杂质的测定 色谱法 | 现行 | 2025-05-27 | 2025-06-03 |
| GB/T 24581-2022 | 硅单晶中III、V族杂质含量的测定 低温傅立叶变换红外光谱法 | 现行 | 2022-03-09 | 2022-10-01 |
| GB/T 34776-2017 | T4 DNA连接酶 酶活及杂质检测方法 | 现行 | 2017-11-01 | 2018-05-01 |
| GB/T 24623-2009 | 高压绝缘子无线电干扰试验 | 现行 | 2009-11-15 | 2010-04-01 |