硅单晶抛光试验片规范

Specification for polished test silicon wafers

GB/T 26065-2010 推荐性国家标准

现行

标准状态

发布日期

2011-01-10

实施日期

2011-10-01

基础信息

标准号

GB/T 26065-2010

批准发布部门

国家标准委

发布部门

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会

技术归口

国家标准委

标准分类

中国标准分类号

H80

国际标准分类号

29.045

标准层级

国家标准

专题

相似标准

标准号 标准名称 状态 发布日期 实施日期
HG/T 2571-2006 抛光膏 现行 2006-07-26 2007-03-01
HG/T 4079-2009 金属抛光表面质量检测及评判规则 现行 2009-02-05 2009-07-01
JC/T 970.2-2018 陶瓷瓷质砖抛光技术装备 第2部分:磨边倒角机 现行 2018-10-22 2019-04-01
YS/T 873-2013 铝合金抛光膜层规范 现行 2013-04-25 2013-09-01
YS/T 25-1992 硅抛光片表面清洗方法 现行 1992-03-09 1993-01-01
GB/T 4058-2009 硅抛光片氧化诱生缺陷的检验方法 现行 2009-10-30 2010-06-01
GB/T 30712-2014 抛光钻石质量测量允差的规定 现行 2014-03-27 2014-10-01
GB/T 12964-2018 硅单晶抛光片 现行 2018-09-17 2019-06-01
DB44/T 530-2008 南珠抛光技术规范 现行 2008-07-11 2008-10-01
GB/T 31281-2025 品牌价值评价 石油和化学工业 现行 2025-08-01 2026-02-01
DB5114/T 40-2022 高标准农田项目建设规程 现行 2022-12-30 2023-01-30