Specification for polished test silicon wafers
现行
2011-01-10
2011-10-01
GB/T 26065-2010
国家标准委
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
国家标准委
H80
29.045
国家标准
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 26065-2010 | 硅单晶抛光试验片规范 | 现行 | 2011-01-10 | 2011-10-01 |
| GB/T 12964-2018 | 硅单晶抛光片 | 现行 | 2018-09-17 | 2019-06-01 |
| DB44/T 530-2008 | 南珠抛光技术规范 | 现行 | 2008-07-11 | 2008-10-01 |
| GB/T 31281-2025 | 品牌价值评价 石油和化学工业 | 现行 | 2025-08-01 | 2026-02-01 |
| DB5114/T 40-2022 | 高标准农田项目建设规程 | 现行 | 2022-12-30 | 2023-01-30 |