太阳能级硅片和硅料中氧、碳、硼和磷量的测定 二次离子质谱法

Test method for measuring oxygen, carbon, boron and phosphorus in solar silicon wafers and feedstock by secondary ion mass spectrometry

GB/T 32281-2015推荐性国家标准

现行

更新日期:2026-03-18

标准状态

发布日期

2015-12-10

实施日期

2017-01-01

基础信息

标准分类

中国标准分类号

H17

国际标准分类号

77.040.30

标准层级

国家标准

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