多晶硅 痕量元素化学分析 辉光放电质谱法

Polycrystalline silicon—Determination of trace elements—Glow discharge mass spectrometry method

GB/T 33236-2016 推荐性国家标准

现行

标准状态

发布日期

2016-12-13

实施日期

2017-11-01

基础信息

标准号

GB/T 33236-2016

批准发布部门

中国科学院

发布部门

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会

技术归口

中国科学院

标准分类

中国标准分类号

G04

国际标准分类号

71.040.40

标准层级

国家标准

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