Nanotechnologies—Electron microscopy imaging of noble metal nanoparticles—High angle annular dark field imaging method
现行
2017-11-01
2018-05-01
GB/T 34831-2017
中国科学院
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
中国科学院
N33
17.180.01;37.020
国家标准
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
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