发光二极管芯片点测方法

Probe test method for light emitting diode chips

GB/T 36613-2018 推荐性国家标准

现行

标准状态

发布日期

2018-09-17

实施日期

2019-01-01

基础信息

标准号

GB/T 36613-2018

批准发布部门

工业和信息化部（电子）

发布部门

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会

技术归口

工业和信息化部（电子）

标准分类

中国标准分类号

L45

国际标准分类号

31.260

标准层级

国家标准

专题

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