Semiconductor devices—Time dependent dielectric breakdown (TDDB) test for gate dielectric films
现行
2025-05-30
2025-09-01
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 19660-2005 | 工业自动化系统与集成 机床数值控制 坐标系和运动命名 | 现行 | 2005-01-25 | 2005-06-01 |
| GB/T 4706.97-2024 | 家用和类似用途电器的安全 第97部分：电击动物设备的特殊要求 | 即将实施 | 2024-07-24 | 2026-08-01 |
| GB/T 17045-2008 | 电击防护 装置和设备的通用部分 | 废止 | 2008-06-19 | 2009-04-01 |
| GB/T 12501.2-1997 | 电工电子设备按电击防护分类 第2部分:对电击防护要求的导则 | 废止 | 1997-12-30 | 1998-09-01 |
| GB/T 17045-1997 | 电击防护 装置和设备的通用部分 | 废止 | 1997-10-16 | 1998-11-01 |