半导体器件 应力迁移试验 第1部分:铜应力迁移试验

Semiconductor devices—Stress migration test—Part 1: Copper stress migration test

GB/T 45721.1-2025推荐性国家标准

现行

相似
更新日期:2026-03-08

标准状态

发布日期

2025-05-30

实施日期

2025-09-01

基础信息

标准号

GB/T 45721.1-2025

是否采用国际标准

该标准采用国际标准

标准分类

中国标准分类号

L40

国际标准分类号

31.080.01

标准层级

国家标准

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