Semiconductor devices—Flexible and stretchable semiconductor devices—Part 2: Evaluation method for electron mobility, sub-threshold swing, and threshold voltage of flexible devices
即将实施
2026-08-28
2027-03-01
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 47239.3-2026 | 半导体器件 柔性可拉伸半导体器件 第3部分：柔性基板在凸起状态下的薄膜晶体管性能评价 | 即将实施 | 2026-08-28 | 2027-03-01 |
| GB/T 47239.2-2026 | 半导体器件 柔性可拉伸半导体器件 第2部分：柔性器件的电子迁移率、亚阈值摆幅和阈值电压评价方法 | 即将实施 | 2026-08-28 | 2027-03-01 |
| GB/T 42709.40-2026 | 半导体器件 微电子机械器件 第40部分：MEMS惯性冲击开关阈值测试方法 | 即将实施 | 2026-07-30 | 2027-02-01 |
| NB/SH/T 6107-2026 | 在用润滑油脂监测报警阈值确定方法 统计分析法 | 即将实施 | 2026-06-26 | 2026-12-26 |