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精细陶瓷 平行光束X射线衍射法测定单晶薄膜（晶圆）结晶质量

Fine ceramics—Test method for crystalline quality of single-crystal thin film (wafer) using XRD method with parallel X-ray beam

GB/T 47625-2026推荐性国家标准

即将实施

更新日期：2026-09-12

标准状态

发布日期

2026-05-25

实施日期

2026-12-01

基础信息

标准号

GB/T 47625-2026

批准发布部门

中国建筑材料联合会

发布部门

国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会

技术归口

中国建筑材料联合会

是否采用国际标准

该标准采用国际标准

标准分类

中国标准分类号

Q30

国际标准分类号

81.060.30

标准层级

国家标准

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