Semiconductor devices—Scan based ageing level estimation for semiconductor devices
2025-12-03
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/Z 123.1-2025 | 纳米制造 材料规范 发光纳米材料 第1部分：空白详细规范 | 现行 | 2025-12-03 | |
| GB/T 48163.8-2026 | 半导体器件 能量收集和产生半导体器件 第8部分：低功耗电子产品中柔性和可拉伸超级电容器的测试和评估方法 | 即将实施 | 2026-09-28 | 2027-04-01 |
| GB/T 17573-2026 | 半导体器件 总则 | 即将实施 | ||
| GB/Z 107-2025 | 半导体器件 基于扫描的半导体器件退化水平评估 | 现行 | 2025-12-03 |