光电耦合器件低频噪声参数测试方法

SJ/T 11766-2020SJ电子

现行

更新日期:2026-03-08

标准状态

发布日期

2020-12-09

实施日期

2021-04-01

基础信息

标准号

SJ/T 11766-2020

批准发布部门

工业和信息化部

制修订

制定

标准分类

标准类别

方法标准

标准分类

电子

中国标准分类号

L50

国际标准分类号

31.080.01

标准层级

行业标准

备案信息

备案号

80903-2021

备案日期

2021-03-05

适用范围

适用于光电耦合器件1 Hz~300 kHz 频率范围内噪声参数的测试

起草单位

工业和信息化部电子第五研究所、西安电子科技大学、重庆赛宝工业技术研究院等

起草人

余永涛、胡为、张伟 等

SJ/T 11766-2020 相关专题

SJ/T 11766-2020 相似标准

标准号标准名称状态发布日期实施日期
SJ/T 11767-2020二极管低频噪声参数测试方法现行2020-12-092021-04-01
GB/Z 35982.2-2026机械振动与冲击 手传振动人机界面的耦合力 第2部分:耦合力评价现行2026-08-27
JC/T 3036-2026建筑材料及构件光老化/周期浸润耦合加速试验方法即将实施2026-06-012026-12-01
Q/GDW 10460-2025电容式电压互感器、耦合电容器状态评价导则现行2025-06-302025-06-30
T/CEEIA 641-2022基于高耦合分裂电抗器的高压交流故障电流限制器专用断路器技术规范现行2022-12-302022-12-30
T/CECA-G 0237-2023空气源热泵与燃气设备耦合供热系统技术规范现行2023-07-102023-07-11